[实用新型]应用于磁约束聚变装置的高精度磁场倾斜角测量系统有效
| 申请号： | 201420297097.2 | 申请日： | 2014-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN203930029U | 公开（公告）日： | 2014-11-05 |
| 发明（设计）人： | 余德良;陈文锦 | 申请（专利权）人： | 核工业西南物理研究院 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02;G01J4/00 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 高尚梅 |
| 地址： | 610041 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 应用于 约束 聚变 装置 高精度 磁场 倾斜角 测量 系统 | ||
【权利要求书】：
1.应用于磁约束聚变装置的高精度磁场倾斜角测量系统，其特征在于：它包括安装在聚变等离子体(1)中的中性束注入系统(2)，聚变等离子体(1)的外部设有前端光学镜头(3)，前端光学镜头(3)与光学调制系统(4)连接，光学调制系统(4)通过光纤(5)与光栅(6)连接，光栅(6)与光纤阵列以及光电转化系统(7)相对，光纤阵列以及光电转化系统(7)与锁相放大器(8)连接，同时光学调制系统(4)与锁相放大器(8)连接从而对后者提供参考信号，锁相放大器(8)与数据采集和控制电脑(9)连接。
2.如权利要求1所述的应用于磁约束聚变装置的高精度磁场倾斜角测量系统，其特征在于：所述的光学调制系统(4)包括2个PEM与1个偏振片。
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