[实用新型]基于高性能BW100芯片的SAR并行处理装置有效

专利信息
申请号: 201420298373.7 申请日: 2014-06-06
公开(公告)号: CN203950307U 公开(公告)日: 2014-11-19
发明(设计)人: 孙晓晖;孙家敬;史鸿生;姚虹;齐子国;丁泉 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十八研究所
主分类号: G06F15/167 分类号: G06F15/167
代理公司: 合肥金安专利事务所 34114 代理人: 吴娜
地址: 230088 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 基于 性能 bw100 芯片 sar 并行 处理 装置
【权利要求书】:

1.基于高性能BW100芯片的SAR并行处理装置,其特征在于:包括一个主BW100芯片和一个从BW100芯片,二者之间通过一个LINK口相连,二者分别通过两路LINK口与FPGA控制器(1)的输入输出端相连,FPGA控制器(1)外挂DDR3存储器作为共享内存,FPGA控制器(1)的输入输出端还分别与第一、二QDRII SRAM存储器的输入输出端相连。

2.根据权利要求1所述的基于高性能BW100芯片的SAR并行处理装置,其特征在于:所述主、从BW100芯片通过FPGA控制器(1)内部的第一数据通讯通道与第一、二QDRII SRAM存储器通讯,所述第一数据通讯通道包括第一、二LINK接口,主BW100芯片通过第一LINK接口分别与LINK1收FIFO、LINK1发FIFO通讯,从BW100芯片通过第二LINK接口分别与LINK2收FIFO、LINK2发FIFO通讯,用于接收回波数据输入的QDRII发缓存的输出端分别与LINK1收FIFO、LINK2收FIFO的输入端相连,LINK1发FIFO、LINK2发FIFO的输出端均与QDRII收缓存的输入端相连,QDRII收缓存的输出端与数据切换单元的输入端相连,数据切换单元的输出端与QDRII发缓存的输入端相连,数据切换单元的输入输出端分别与第一、二QDRII接口相连,第一、二QDRII接口分别与第一、二QDRII SRAM存储器相连。

3.根据权利要求1所述的基于高性能BW100芯片的SAR并行处理装置,其特征在于:所述第一、二QDRII SRAM存储器通过FPGA控制器(1)内部的第二数据通讯通道与DDR3存储器通讯,所述第二数据通讯通道包括分别与第一、二QDRII SRAM存储器相连的第一、二QDRII接口,第一、二QDRII接口的输入输出端均与数据切换单元的输入输出端相连,数据切换单元通过DDR3收缓存与DDR3接口的输入端相连,DDR3接口与DDR3存储器相连,DDR3接口的输出端通过DDR3发缓存与数据切换单元的输入端相连。

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