[实用新型]一种辅助散热风扇工作的测试装置有效

专利信息
申请号: 201420303046.6 申请日: 2014-06-09
公开(公告)号: CN203879781U 公开(公告)日: 2014-10-15
发明(设计)人: 周奇峰;刘继承;朱惠民 申请(专利权)人: 骏亚(惠州)电子科技有限公司
主分类号: F04D27/00 分类号: F04D27/00
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 任海燕
地址: 516025 广东省惠*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 辅助 散热 风扇 工作 测试 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种辅助测试装置,具体地说是一种辅助散热风扇工作的测试装置。

背景技术

在PCB板的生产过程中,波峰焊炉后散热风扇电机容易损坏,致使散热风扇不工作,最终导致炉内温度过高。若不及时对PCB板进降温处理,易造成PCB的焊点出现锡孔、锡裂等不良现象,影响最终产品的品质。散热风扇的进风口一般开设在波峰焊炉内,其出风口位于波峰焊炉外。散热风扇启动时将炉内的热空气抽出炉外。散热风扇的外侧通常还设有防护网罩,因而仅凭肉眼难以从外部观察到散热风扇的运行状况。目前,多为人工使用相关电表进行手工点检测量,对于散热风扇损坏的情况不易及时发现, PCB过炉后未进行降温处理,从而造成PCB锡孔、锡裂不良比例较高。对此,及时判断散热风扇是否损坏,并对其进行快速修理,是首要解决的问题。

发明内容

针对上述现有技术,本实用新型要解决的技术问题是:提供一种辅助散热风扇工作的测试装置及时、准确判断散热风扇是否损坏。

为了解决上述问题,本实用新型的辅助散热风扇工作的测试装置,包括一安装于散热风扇的防护网罩外侧的风车、与所述风车中心轴相连接的转速传感器,以及与所述转速传感器的输出端电连接的报警单元。

优选的,所述的报警单元包括一发光二极管和/或蜂鸣器。

优选的,所述的发光二极管设置于防护网罩的外围的任意位置上。

优选的,所述的蜂鸣器设置于防护网罩的内侧或外侧。

优选的,所述的蜂鸣器通过一开关管与转速传感器的输出端相连,其中,转速传感器的输出端通过一非门连接至开关管的控制端,发光二极管串联在转速传感器的输出端与地之间。

与现有技术相比,本实用新型具有如下优点:

一、实现方法简单方便,使用肉眼就能了解散热风扇的电机是否损坏。

二、能够及时发现散热风扇的电机是否损坏,准确度高,有效降低PCB焊点锡孔、锡裂等现象的产生。

三、发光二极管与蜂鸣器两者工作的回路相互独立,有效防止因使用时间过长时,元器件损坏,致使测试方法无效的情况发生。

附图说明

图1 为本实用新型实施的辅助散热风扇工作的测试装置的结构示意图。

图2 为本实用新型实施的辅助散热风扇工作的测试装置的内部电路图。

具体实施方式

为了让本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案,下面结合附图对本实用新型作进一步阐述。

本实用新型的具体实施方式如图1所示,一种辅助散热风扇工作的测试装置,包括一安装于散热风扇的防护网罩1外侧的风车2、与风车2中心轴相连接的转速传感器3,以及与转速传感器3的输出端电连接的报警单元4。

其中,报警单元包括一发光二极管41和/或蜂鸣器42。

其中,发光二极管41设置于防护网罩1的外围的任意位置上。

其中,蜂鸣器42设置于防护网罩1的内侧或外侧,图1中,两者均有,且均设置在散热风扇金属外壳表面5、防护网罩1外侧。

其内部电路如图2所示。其中,转速传感器3为图中的J1,发光二极管41为图中的D1,蜂鸣器42为图中的U2。

其中,所述的蜂鸣器U2通过一开关管Q1与转速传感器3的输出端Uo相连,其中,转速传感器3的输出端Uo通过一非门U1连接至开关管Q1的控制端,发光二极管串联在转速传感器3的输出端Uo与地之间。转速传感器3的输出端Uo与发光二极管的阳极相连,蜂鸣器U2串接在非门U1的输出端与地之间。图2中,开关管Q1采用NPN型三级管,其基极与非门的输出端。工作电压Vcc选择+12V。

转速传感器3选取霍尔传感器J1,并设置其的输出模式为数字信号输出。需要说明的是,当霍尔元件用于数字信号时,必须首先改变电路,即霍尔元件与微分放大器连接,微分放大器与施密特触发器连接。这样的配置是本领域技术人员所熟知的,在此不再赘述。

对发光二极管而言,当散热风扇正常转动时,霍尔传感器J1输出高电平,发光二极管常亮;当散热风扇损坏不转动时,霍尔传感器J1输出低电平,发光二极管熄灭。

对于蜂鸣器U2而言,当散热风扇正常转动时,霍尔传感器J1输出高电平,通过非门U1后变为低电平,三极管Q1截止,蜂鸣器U2不工作;当散热风扇损坏不转动时,霍尔传感器J1输出低电平,通过非门U1后变为高电平,三极管Q1导通,蜂鸣器U2发出声音提醒。

发光二极管与蜂鸣器两者工作的回路相互独立,有效防止因使用时间过长时,元器件损坏,致使测试方法无效的情况发生。

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