[实用新型]用于光模块测试的测试板子

说明书

技术领域

本实用新型涉及光纤通信测试领域，特别是光模块调试和测试的测试板设计领域。

背景技术

在目前的光纤信号通信测试领域中，通常用于发端的调制信号是直接来自于BERT（误码率测试仪Bit Error Ratio Tester）。在发射端接收到光信号后，把光信号转化成电信号，再通过测试板子上的SMA（同轴线缆/天线连接头-A型SUB-MINIATURE-A）连接头，用同轴电缆线把信号返回到BERT。这样经常需要通过多个SMA转接头连接，这种设计会出现多种问题：一是测试板子本身的设计成本比较高；二是信号经过同轴电缆线和多次SMA转接头转接后，信号质量变差，特别是同轴电缆线比较长的时候，信号质量下降的情况尤其明显；三是在转接中带来各种不确定的因素会影响信号的质量，比如同轴电缆线松动、SMA连接匹配阻抗不佳、外部信号干扰等，特别是对于高速率如4G及其以上速率的信号，多次经过SMA连接头转接或者把一路调制信号经过IC（仪表芯片Instrument Chip）分成多路调制信号后，会不同程度的影响信号质量。

发明内容

本实用新型的目的在于解决传统调测试系统中信号链路光纤和同轴电缆线混用转接，信号质量变差，以及一路调制信号经过IC分成多路调制信号后，影响信号质量的问题，本实用新型提供了以下的技术方案：

一种用于光模块测试的测试板子，该测试板包括：发射端数字信号线负端布线TD-（1），发射端数字信号线正端布线TD+（2），收端数字信号线正端布线RD+（3），收端数字信号线负端布线RD-（4）和自环芯片CDR（7），其中，发射端数字信号线负端布线TD-（1），发射端数字信号线正端布线TD+（2），收端数字信号线正端布线RD+（3），收端数字信号线负端布线RD-（4）的四条布线的一端与自环芯片CDR（7）连接，另一端通过PCB上的布线分别连接到待测试模块的收端RD-,RD+,TD-,TD+,从而收发端以自环的形式得到通信。

进一步的，收发信号通过自环连接，测试板子无需通过同同轴电缆线连接，收发回路全部由光纤跳线替代传统的同轴电缆线进行通信。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

（1）减少测试板的成本，由于本测试板只有光路，无同轴电缆线连接头和同轴电缆线，而同轴电缆线SMA连接头是比较昂贵的，因此可以较大幅度地减少测试板的成本；

（2）提高发端调制信号的质量。由于在系统链路中用光纤替代了同轴电缆线，根据光纤线缆传输信号的稳定特性，发端引脚接受到的调制信号更加稳定、可靠。

附图说明

图1当前通用的测试板子布线及构成图。

图2本实用新型的测试板子布线及构成图。

具体实施方式

下面结合试验案列及具体实施方式对本实用新型作进一步的详细描述。但不应将此理解为本实用新型上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本发明内容所实现的技术均属于本实用新型的范围。

本实用新型公开了一种用于光模块测试的测试板子，包括测试板子上调制信号的自布线方案，调测试所需要的发射端调制信号通过自环芯片CDR从发射端信号获得，通过在测试板子上直接将误码仪调制光源发出的光信号由测试板子上待测光模块的发射端所接收，发射端光信号转化成电信号后，直接从印刷电路板上布线连接到发端的调制信号接收引脚，从而使待测光模块获得调制信号。并且收发信号通过自环连接，测试板子无需通过同同轴电缆线连接，收发回路全部由光纤跳线替代传统的同轴电缆线进行通信。