[实用新型]测头校准块有效

专利信息
申请号: 201420329533.X 申请日: 2014-06-19
公开(公告)号: CN203936713U 公开(公告)日: 2014-11-12
发明(设计)人: 陈祥余;张宪阵;片成荣;章青;张艳春;吴楠;宋洁;肖德明;孙金丽;张育坤 申请(专利权)人: 中国海洋石油总公司;海洋石油工程股份有限公司
主分类号: B23Q17/20 分类号: B23Q17/20
代理公司: 天津三元专利商标代理有限责任公司 12203 代理人: 高凤荣
地址: 100010 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 校准
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及校准块,尤其涉及一种用于水下设施零部件加工检测使用的测头校准块,属于海洋工程领域。

背景技术

随着海洋石油向深水方向的勘探开发,水下生产设施零部件的加工制造要求也越来越高。

目前,在检测水下生产设施零部件的形位公差时,更多地使用测头测量来取代传统人工手动测量带来的效率低、精度差的缺陷。使用时,将测头安装在机床刀库中,通过测量宏程序驱动测头动作。测量时,测头宝石球表面接触工件,此时机床记下宝石球中心点的坐标值,工件被测点坐标值应为宝石球中心点坐标减去宝石球等效半径。

但是,在对水下生产设施零部件加工检测时,由于测头测杆变形、机床伺服动态误差等各种原因,会使校准出的测球半径小于该宝石球的实际半径,因此,称为等效半径,该等效半径正好抵消在测量零件时的误差。为了提高零件检测精度,测量前必须对测头进行校准,以获得红宝石球等效半径。测点数据处理时,使用的是等效半径而非宝石球实际半径。

目前,现有测头校准采用是标准球,校准时,通常一次只能选取四个测点,测点数据少,容易出现测量奇异点,测点数据不可靠,易出现测点拟合精度不高的现象,从而,降低测头校准精度。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于克服现有技术存在的上述缺点,而提供一种改进的测头校准块,其结构简单,操作简便,不仅增加了测点数据;而且,在测点数据拟合时,能够较好地避免测量奇异点的带来的影响;提高了校准精度,使数据处理起来更加方便。

本实用新型的目的是由以下技术方案实现的:

一种测头校准块,其特征在于:设有:一管状体,该管状体的内部设有数个不同直径的标准孔,且数个标准孔为阶梯式设置。

所述管状体的材质为:陶瓷或玻璃。

本实用新型的有益效果:本实用新型由于采用上述技术方案,其结构简单,操作简便,不仅增加了测点数据,一次校准能够选取24个测点;而且,在测点数据拟合时,能够较好地避免测量奇异点的带来的影响;提高了校准精度,使数据处理起来更加方便。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图。

图1A为本实用新型结构剖视图。

图2本实用新型校准测量路径图。

图3为本实用新型校准原理图。

图中主要标号说明:

1.第一标准孔;2.第二标准孔;3.第三标准孔;4.测杆;5.测球;6.拟合圆。

具体实施方式

如图1至图1A所示,本实用新型设有:一管状体,该管状体的内部设有数个不同直径的标准孔,且数个标准孔为阶梯式设置;本实施例设有三个标准孔,包括:第一标准孔1、第二标准孔2、第三标准孔3,三个标准孔的直径设置是自下而上逐渐增大或减小。上述第一标准孔1、第二标准孔2、第三标准孔3的加工精度相同,根据测头校准精度要求加工成0.5um,0.25um,0.15um,0.10um,0.09um,0.08um,0.07um,0.06um。

上述管状体的材质为:陶瓷或玻璃。

如图2所示,第一标准孔1、第二标准孔2、第三标准孔3的测头校准测量路径完全相同。测头校准时,采用人工编制的测量宏程序来驱动测头动作,程序自动计算出所检测两测点的中点坐标。测头检测路径起始于随机的A点,沿机床X轴正向测球触碰B点,记录B点坐标,沿X负向至触碰C点,记录C点坐标,程序自动计算BC中点D坐标,驱动测头至D;测头由D沿机床Y轴正向触碰E点,沿Y负向至触碰F点,记录F点坐标,程序自动计算EF中点即拟合圆圆心G坐标,驱动测头运动至G;测头由G沿X正向触碰I点,记录I点坐标,沿X负向至触碰H点,记录H点坐标,测头退回G点;然后,由G到GF中点J,由J沿X正向触碰K点,记录K点坐标,沿X负向至触碰L点,记录L点坐标,测头退回至测量终止点M,结束标准孔检测。测球校准检测路径:A→B→C→D→E→F→G→I→H→G→J→K→L→M。

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