[实用新型]一种故障检测电路及内置该故障检测电路的复合开关

权利要求书

1.一种故障检测电路，用于检测复合开关中每组并联运行的可控硅和磁保持继电器的工作状态，其特征在于，其包括电阻R4、R6、R10、R13、R18、R20、光电耦合器U1、NPN型三极管Q1、二极管D4、电容C11以及芯片HEF40106B；

所述芯片HEF40106B有14个引脚；

所述电阻R10的一端与所述可控硅和所述磁保持继电器与火线相接的公共端相连，所述电阻R10的另一端与所述电阻R13的一端相连，所述电阻R13的另一端与所述光电耦合器U1的发光源的一端相连，所述光电耦合器U1的发光源的另一端与出线相接，所述光电耦合器U1的受光器的一端接地，另一端同时与所述电阻R4的一端和所述电阻R18的一端相连，所述电阻R18的另一端同时与电源VDD和所述电阻R20的一端相连，所述电阻R4的另一端与所述NPN型三极管Q1的基极相连，所述电阻R20的另一端同时与所述电阻R6的一端，所述二极管D4的阴极以及所述NPN型三极管Q1的集电极相连，所述NPN型三极管Q1的发射极接地，所述电阻R6的另一端、所述二极管D4的阳极以及所述电容C11的一端相交后与所述芯片HEF40106B的引脚1相连，所述电容C11的另一端接地，所述芯片HEF40106B的引脚2与示波器的第一输入端相连。

2.一种内置权利要求1所述故障检测电路的复合开关，其特征在于，所述复合开关中的一组并联运行的可控硅和磁保持继电器，与可控硅驱动电路(1)、磁保持继电器控制电路(2)以及所述故障检测电路(3)相连；

所述可控硅驱动电路(1)，与所述可控硅的控制端相连，用于触发可控硅；

所述磁保持继电器控制电路(2)，与所述磁保持继电器的线圈两端相连，用于控制磁保持继电器的通断；

所述故障检测电路(3)，与所述可控硅和所述磁保持继电器的两个公共端相连，用于在所述可控硅驱动电路(1)和所述磁保持继电器控制电路(2)动作后，对所述可控硅和所述磁保持继电器的工作状态进行检测。

3.根据权利要求2所述的复合开关，其特征在于，所述可控硅驱动电路(1)包括芯片HEF4011BT、开关S7、电阻R30、R35、R36、NPN型三极管Q8、Q9、PNP型三极管Q13、电容C8、共模电感T1以及二极管D1；

所述芯片HEF4011BT包括14个引脚，内置四个与非门电路；

所述电阻R35的一端接地，另一端同时接所述开关S7的一端、示波器的第二输入端以及所述芯片HEF4011BT的引脚2；所述开关S7的另一端接电源VDD；

所述芯片HEF4011BT的引脚1接7KHZ脉冲信号，引脚3接所述电阻R36的一端；所述电阻R36的另一端接所述NPN型三极管Q8的基极；所述NPN型三极管Q8的发射极与所述PNP型三极管Q13的集电极相连后接地；所述NPN型三极管Q8的集电极同时与所述NPN型三极管Q9的基极、所述PNP型三极管Q13的基极以及所述电阻R30的一端相连；所述电阻R30的另一端同时与12V电压和所述NPN型三极管Q9的集电极相连；所述NPN型三极管Q9的发射极、所述PNP型三极管Q13的发射极以及所述电容C8的一端相连；所述电容C8的另一端接所述共模电感T1的输入端，所述共模电感T1的输出端与所述二极管D1的阳极相连，所述二极管D1的阴极与所述可控硅的控制端相连。

4.根据权利要求2或3所述的复合开关，其特征在于，所述磁保持继电器控制电路(2)包括开关S1、S2、芯片ULN2003A以及继电器HFD27/012-S；

所述芯片ULN2003A包括16个引脚；所述开关S1的一端接电源VDD，其另一端接所述芯片ULN2003A的引脚2；

所述开关S2的一端接电源VDD，另一端同时接所述示波器的第三输入端和所述芯片ULN2003A的引脚3；

所述继电器HFD27/012-S的一个线圈脚接所述芯片ULN2003A的引脚15，所述继电器HFD27/012-S的另一个线圈脚接12V电压，所述继电器HFD27/012-S的一个常闭触点与所述芯片ULN2003A的引脚14相连，另一个常闭触点接12V电压，所述继电器HFD27/012-S的两个常开触点与所述磁保持继电器的线圈两端相连。

5.根据权利要求4所述的复合开关，其特征在于，所述复合开关中每一组并联运行的可控硅和磁保持继电器均连接有所述可控硅驱动电路(1)、所述磁保持继电器控制电路(2)以及所述故障检测电路(3)。