[实用新型]TOFD试块多通道序贯自动扫查机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及超声波检测领域，具体指一种TOFD多通道序贯自动扫查机构。

背景技术

TOFD技术是一种基于衍射信号实施检测的技术，其利用波遇到障碍物或小孔后通过散射继续传播的原理，采用一发一收两个宽带窄脉冲探头进行检测，探头相对于焊缝中心线对称布置。发射探头产生非聚焦纵波波束以一定角度入射到被检工件中，其中部分波束沿近表面传播被接收探头接收，部分波束经底面反射后被接收探头接收。接收探头通过接收缺陷尖端的衍射信号及其时差来确定缺陷的位置及其高度。TOFD技术具有检测灵敏度高，扫查速度快，对于裂纹、未熔合等面状危害性缺陷有极高的检出率，可及时成像且无辐射污染等许多优点。

根据TOFD检测标准NB/T 47013.10-2010规定，利用TOFD技术进行设备缺陷的检测前，应采用对比试块进行检测设置与校准，采用模拟试块对检测工艺进行验证试验。试块调试的准确与否直接影响到实际检测质量，可以说试块扫查是TOFD检测的前提与依据。

现有的试块扫查装置通常包括一个扫查架，扫查架的下端设有带磁性的滚轮和编码器，要能够在试块平面内平稳地行走，至少需要三个滚轮来适配试块表面，通常采用对称设置的四个滚轮；而编码器一般连接在其中一个滚轮上；检测探头则对称设置在扫查架的下部。扫查架手动或自动行走，对试块进行扫查。

对于一些厚度较大的试块，需要多组不同规格的探头组依次扫查，这样，对于一些手动操作的扫查架来说，工作量非常大，且由于每次人工操作的不重复性，必然导致扫查结果的误差。而对于自动扫查的扫查装置，则需要依次更换探头组后才能进行扫查。仍然存在工作量大、偶发因素影响扫查结果的现象。同时上述现有的试块扫查装置均无法解决试块一次扫查过程中由于探头组、滚轮等与试块之间的碰撞所导致的数据不完整的问题。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术的现状提供一种能配合扫查装置一次性完成厚度较大试块扫查的TOFD试块多通道序贯自动扫查机构，从而获得精确的扫查结果，为TOFD检测提供准确的参考依据。

本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案为：该TOFD试块多通道序贯自动扫查机构，包括设置在扫查架上的第一探头组，其特征在于所述扫查架上还设有至少一组第二探头组；

所述第二探头组设置在固定座上，所述固定座设置在连杆上，所述连杆上下移动地设置在连接座上，弹簧套设在连杆上，弹簧的两端分别抵触在固定座和连接座上；

所述连接座连接在所述扫查架上；

所述连接座上还枢接有拨叉；其中拨叉的第一叉连接有拉片的一端，所述拉片的另一端连接在所述固定座上；所述拨叉的第二叉的下端低于试块的上表面；

拉簧的一端连接在所述第一叉上，拉簧的另一端连接在所述连接座上。

所述拉片上设有滑孔，连接轴穿过所述滑孔连接所述的固定座。

上述方案中，第二探头组开始工作时，试块可以直接作用在拨叉的第二叉上，但是通常由于结构的限制，拨叉第二叉的长度较长，拨叉摆动给定角度时第二叉下端需要有较多的水平行程，易与后续探头组发生干涉，而且使本探头组在试块表面的扫查起始位置延后，留下较长的空行程。为了改善和解决这一问题，所述拨叉的第二叉包括连接部、拉杆和拨片，所述连接部与所述第一叉一体成型，所述拨片通过拉杆连接所述连接部，所述拨片的下端低于试块的上表面；所述拨片枢接在所述连接座上，这样，在扫查开始时，拨片碰到试块上表面边缘后，只需经历很短的直线扫查行程，就能使拨叉摆动较大的角度，进而使得探头组能够较快地下降到试块表面进入扫查状态。

所述拨片靠近试块的端缘为圆滑的弧形结构。

所述第一探头组设置在所述第一固定座上，所述第一固定座设置在第一连杆上，所述第一连杆上下移动地设置在第一连接座上，第一弹簧套设在第一连杆上，第一弹簧的两端分别抵触在第一固定座和第一连接座上；所述第一连接座连接在所述扫查架上。

与现有技术相比，本实用新型第二探头组在该多通道序贯自动扫查机构的作用下，在其不工作时，第二探头组的位置高于试块表面，因此其进入试块时不会与试块碰撞，从而不会影响第一探头组的工作；而当其进入试块时，又在拨片的作用下逐渐耦合到试块表面，探头下移进而耦合到试块表面的过程是渐进的，也是没有振动和冲击的，因此对第一探头组、第二探头组的扫查过程均无任何不良影响；有效解决了现有技术中厚度较大试块需要进行多次扫查以及扫查过程中由于探头组、滚轮等与试块之间的碰撞所导致的数据不完整的问题。

附图说明