[实用新型]易于测试的智能手机SIM卡有效
申请号: | 201420347902.8 | 申请日: | 2014-06-25 |
公开(公告)号: | CN203950335U | 公开(公告)日: | 2014-11-19 |
发明(设计)人: | 聂琪双;郭奕华;徐玲 | 申请(专利权)人: | 昆山圆裕电子科技有限公司 |
主分类号: | G06K19/077 | 分类号: | G06K19/077 |
代理公司: | 无 | 代理人: | 无 |
地址: | 215300 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 易于 测试 智能手机 sim | ||
【技术领域】
本实用新型涉及移动通信设备技术领域,尤其涉及易于测试的智能手机SIM卡。
【背景技术】
随着移动通信事业的迅速发展,移动电话已成为愈来愈多消费者日常生活不可缺少的工具,安装于移动电话内的用户识别卡(SIM卡)是实现通话的最主要部分。每当移动电话打开时,移动电话都要与SIM卡进行数据交流。没插卡时,这些信号是不会送出的。SIM卡是(Subscriber Identity Module客户识别模块)的缩写,也称为用户身份识别卡、智能卡,GSM数字移动电话机必须装上此卡方能使用。它在电脑芯片上存储了数字移动电话客户的信息,加密的密钥以及用户的电话簿等内容,可供GSM网络客户身份进行鉴别,并对客户通话时的语音信息进行加密。
SIM卡是一个装有微处理器的芯片卡,它的内部有5个模块,并且每个模块都对应一个功能:微处理器CPU(8位)、程序存储器ROM(3~8kbit)、工作存储器RAM(6~16kbit)数据存储器EEPROM(128~256kbit)和串行通信单元,这5个模块被胶封在SIM卡铜制接口后与普通IC卡封装方式相同。
SIM卡出厂封装前,需要对SIM卡的性能进行抽样测试,保证SIM卡的出厂品质,传统的测试方法中,由于卡本体较小,需要一定的耐心和手法将卡安装入相应的治具中,在插卡和退卡过程中会有倾斜,导致FPC板面刮伤,影响SIM卡的品质,不利于产品的出厂。
因此,有必要设计一种易于测试的SIM卡。
【实用新型内容】
本实用新型的主要目的在于提供一种易于测试的智能手机SIM卡,其是一种方便测试的智能手机SIM卡。
本实用新型通过如下技术方案实现上述目的:一种易于测试的智能手机SIM卡,包括塑化片状体结构的载体,所述载体上固定有主芯片,其一端设有天线容置槽,所述天线容置槽内嵌有LTCC天线,所述LTCC天线与主芯片通过相应的天线引脚连接,所述载体的另一端连接有手柄,所述手柄包括一体成型的手持部和与所述载体相连接的连接部,所述手持部的宽度大于连接部的宽度。
优选的,所述手柄的长度为5cm。
优选的,所述手柄手持部的宽度为5mm,连接部的宽度为2mm。
优选的,所述手柄的手持部和连接部均为矩形状。
优选的,所述LTCC天线为基于LTCC技术制备的射频天线。
优选的,所述主芯片的工作频率为13.5MHz。
与现有技术相比,本实用新型易于测试的智能手机SIM卡的有益效果在于:采用LTCC技术集成射频天线,实现了天线的小型化,提高了天线的稳定性,增强了双界面SIM卡的使用寿命;同时明显改善了SIM卡在非接触状态下发送和接收信号经手机等移动设备后衰减的问题;采用13.5MHz,符合ISO14443标准,与目前大多数射频终端兼容,无需对现有射频终端进行改造;在卡上设置手柄,使得工作人员在测试的过程中能够自如的插卡和退卡,有效避免了SIM卡FPC板面的刮伤,保证了SIM卡的出厂品质;其结构设计简单、制作方便、生产成本低,有效降低了工作人员的测试操作难度,提高了测试的准确性。
【附图说明】
图1为本实用新型易于测试的智能手机SIM卡的结构示意图。
图2为本实用新型易于测试的智能手机SIM卡的测试时的结构示意图。
【具体实施方式】
请参照图1所示,本实用新型一种易于测试的智能手机SIM卡,包括塑化片状体结构的载体2,载体上固定有主芯片3,其一端设有天线容置槽1,天线容置槽1内嵌有低温共烧陶瓷(LTCC)天线,低温共烧陶瓷(LTCC)天线与主芯片3通过相应的天线引脚连接,载体2的另一端连接有手柄4,手柄4包括一体成型的手持部401和与所述载体相连接的连接部402,手持部401的宽度大于连接部402的宽度。
手柄4的长度为5cm,既不会太长而容易折断,也不会过短导致持握的不便;手柄4手持部的宽度为5mm,连接部的宽度为2mm,连接部的宽度若过大则容易浪费材料,过小则达不到连接的强度要求;手柄4的手持部401和连接部402均为矩形状;低温共烧陶瓷(LTCC)天线为基于低温共烧陶瓷(LTCC)技术制备的射频天线;主芯片3的工作频率为13.5MHz。
使用时,如图2所示,利用手柄4直接将SIM卡的载体部分插入到专用治具的插卡器5中进行测试。
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