[实用新型]一种银触点尺寸检测工装

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测设备领域，特别涉及一种用于快速对银触点尺寸是否符合规定要求进行检测的工装。

背景技术

银触点是许多电器中非常常见的导电材料，其尺寸从几毫米到几十毫米不等，而其尺寸精度的误差范围为几毫米或者零点几毫米，需要保持高度的一致性。因此，对于银触点的产品尺寸是否符合规定要求的检测是一项十分繁杂的工作。通过普通检测工具如游标卡尺、千分尺等进行检测，检测速度慢，效率低，且容易受人为影响的干扰。因此，现有的银触点尺寸检测方法效率低，精度低，不能符合现代工业高速发展的要求。因此，如何提供一种工装，以提高银触点尺寸是否符合规定的检测精度和检测效率，成为检测仪器领域需要解决的一个重要问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种检测精度高，检测效率高的银触点尺寸检测工装，本实用新型提供以下技术方案：

    一种银触点尺寸检测工装，它包括本体，所述本体的一侧设有台阶，所述台阶的多个面依次为第一基准面、第二基准面、第一测量面和第二测量面，所述本体上与所述台阶相邻的一面开设有凹槽，所述凹槽上转动安装有第一转臂和第二转臂，所述第一转臂的两端为弧形，且弧形顶点距离其转动中心点的距离不相等，所述第二转臂的两端为弧形，且弧形顶点距离其转动中心点的距离不相等。

    作为本实用新型的一种优选方案，所述凹槽上分别开有第一安装孔和第二安装孔，所述第一转臂通过螺栓转动安装于第一安装孔，所述第二转臂通过螺栓转动安装于第二安装孔。

作为本实用新型的另一种优选方案，所述台阶的第一基准面与第二基准面相互垂直，所述第一测量面与第二测量面相互垂直。

本实用新型优点是：本实用新型结构简单，使用方便，检测速度快，通过将银触点的尺寸直接测量改为检测银触点的尺寸是否超出规定尺寸的最大值和最小值，直接判断其是否在规定范围内，简单、快速，效率高。本实用新型检测速度快，每个银触点的检测时间在10s以内。本实用新型制作成本低，可以大批量生产使用，进一步提高检测速度，降低检测成本。

附图说明

图1为本实用新型立体结构示意图；

图2为本实用新型本体结构示意图；

图3为待测银触点结构示意图；

图4为待测银触点主视图；

图5为本实用新型检测银触点尺寸状态结构示意图。

图中标号为：

1—本体           11—台阶           111—第一基准面

112—第二基准面   113—第一测量面    114—第二测量面

12—凹槽          121—第一安装孔    122—第二安装孔

2—第一转臂       3—第二转臂          4—银触点

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。

如附图1本实用新型立体结构示意图和附图2本实用新型本体结构示意图所示，一种银触点尺寸检测工装，它包括本体1，本体1的一侧设有台阶11，台阶11的多个面依次为第一基准面111、第二基准面112、第一测量面113和第二测量面114，本体1上与台阶11相邻的一面开设有凹槽12，凹槽12上转动安装有第一转臂2和第二转臂3，第一转臂2的两端为弧形，且弧形顶点距离其转动中心点的距离不相等，第二转臂3的两端为弧形，且弧形顶点距离其转动中心点的距离不相等。

    凹槽12上分别开有第一安装孔121和第二安装孔122，第一转臂2通过螺栓转动安装于第一安装孔121，第二转臂3通过螺栓转动安装于第二安装孔122。台阶11的第一基准面111与第二基准面112相互垂直，第一测量面113与第二测量面114相互垂直。