[实用新型]用于弱磁材料磁化率检测的试样夹组件有效

专利信息
申请号: 201420368648.X 申请日: 2014-07-04
公开(公告)号: CN204009029U 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: 华瑛;张文华 申请(专利权)人: 宝钢特钢有限公司
主分类号: G01R33/16 分类号: G01R33/16
代理公司: 上海集信知识产权代理有限公司 31254 代理人: 肖祎
地址: 200940 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 用于 材料 磁化率 检测 试样 组件
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种金属材料物理性能检测装置,具体说涉及一种测量弱磁材料磁化率的辅助工具。

背景技术

无磁材料指的是非铁磁性或非亚铁磁性的其它抗磁性、顺磁性、反铁磁性或超顺磁性的材料,如铜、铝、钛合金和陶瓷等;弱磁材料是指无磁材料中含有微量铁磁性或亚铁磁性材料的材料。

随着电子技术的高速发展,电子仪器与设备越来越小型化,高精度化、高集成化,此时这些无磁、弱磁材料的磁性能包括磁化率、磁导率、剩磁等性能对仪器设备性能的影响就越来越显现出来,直接影响仪器、器件的精度。

目前特种钢铁公司已大批量生产低磁钢、石油钻铤用钢、电机用钢、军工用螺纹钢以及线材、盘条等弱磁材料,磁化率检测指标是弱磁材料的重要性能指标。目前,弱磁材料的磁化率检测是在弱磁测量仪中进行的。较低级弱磁测量仪的试样布置是“水平横放”,较高级弱磁测量仪的试样布置是“垂直竖放”。采用较高级弱磁测量仪,检测弱磁材料的磁化率,其结构如图6所示,包括电磁铁、传感器、电源、计算机、电子天平;试样是1个小圆棒,“垂直竖放”在2个电磁铁之间;1根金属丝线,一端手工绑住试样,一端呈钩形,吊在“电子天平”下部;检测过程如下:试样吊放在弱磁测量仪的电磁铁极头中央,接通电源,在计算机中设定样品参数,样品开始磁化,测试系统自动采集数据并得出弱磁材料磁化率的检测结果。

上述“试样垂直竖放”式的弱磁材料磁化率检测,其不足之处是:处于2个电磁铁之间的试样,不易将磁固定在磁场中心即2个电磁铁之间的中心线,易晃动,这就影响磁化率检测的精度。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种用于磁化率检测的试样夹组件,可作为弱磁测量仪的有效辅助工具,用于弱磁材料的磁化率检测,以获得准确率高的磁特性检测数据。

本实用新型的用于磁化率检测的试样夹组件,包括:同轴线布置的盘盖、样品夹、样品盖、吊丝;盘盖、样品夹、样品盖由三个同心异型圆柱体和圆锥体组成,样品盖与盘盖通过内、外螺纹连接,样品夹处于试样样品和吊丝之间并嵌入样品盖以延伸通过样品盖的内腔并容置固定在盘盖内腔中。

样品夹具有同心的锥体和圆柱体部分,锥体形成有四个抓辫,样品夹通过抓辫嵌入样品盖并延伸通过样品盖的内腔,以当盘盖与样品盖间螺纹结合并旋紧后顶抵样品夹并收紧抓辫。

四个抓辫是由样品夹的圆锥体部分在其周壁上等间距地形成四条轴向延伸的长槽构成。

样品夹的锥体和圆柱体连接处形成圆周环形凹槽。

盘盖与样品盖的外圆直径相同。

盘盖沿中心轴线轴向延伸有一小孔用于穿引吊丝,盘盖背面形成一内腔,用于放置吊丝固定栓,吊丝绕扣在吊环上。

样品盖由圆柱体和圆锥体部分组成,圆柱体部分形成内螺纹,以与盘盖的外螺纹结合以连接成一体。

盘盖、样品夹、样品盖材料为绝缘胶木,吊丝材料为绝缘漆包线。

样品夹嵌入样品盖中并在旋紧盘盖与样品盖间螺纹以顶住样品夹时,抓瓣收紧以固定锁紧试样,旋开盘盖与样品盖间螺纹则放松样品夹,松开抓瓣以从抓瓣中取出试样。

盘盖外圆直径为35mm,盘盖高22.5mm,台肩高10mm,外螺纹的外牙直径28mm,外螺纹的内牙直径为26.5mm,螺纹长10mm,内孔直径为20.5mm,穿过小孔的吊丝直径为1mm,盘盖内腔直径为11mm,吊丝长600mm,吊环的直径为16mm。

样品夹外圆直径为20mm,样品夹高26.5mm,台肩高3mm,内孔直径11mm,四个等间距的爪形抓瓣长均为21.8mm,抓瓣璞间距2.5mm,放松时抓瓣直径为15mm。

样品盖高24mm,圆柱台肩高16mm,圆柱外圆直径为35mm,内螺纹的螺纹外牙直径28mm,内螺纹的螺纹内牙直径为26.5mm,螺纹长10mm,圆锥外圆直径28mm,内圆直径15mm,锥体外倒角30°,内倒角45°。

本实用新型的用于磁化率检测的试样夹组件与弱磁测量仪匹配可进行弱磁材料磁化率性能的测量,在进行磁化率检测时,只要把待测样品放入适合的试样夹组件中即可,克服了高磁场下传感器非线性的缺点,该试样夹组件结构简单,操作方便,安装快速、更换拆卸方便、使用寿命长、稳定性好、实用性强,测量精度提高。本实用新型为弱磁材料的产品质量提供了保证,也使弱磁产品取得了巨大的经济效益。

附图说明

图1a和图1b是本实用新型一个实施例的用于磁化率检测的试样夹组件的盘盖部分的主视图和剖视图;

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