[实用新型]气流式光谱异物剔除设备有效
申请号: | 201420376875.7 | 申请日: | 2014-07-09 |
公开(公告)号: | CN203936042U | 公开(公告)日: | 2014-11-12 |
发明(设计)人: | 刘春雷;王泽斌 | 申请(专利权)人: | 成都信泰科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/342 | 分类号: | B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36;B07B7/01 |
代理公司: | 无 | 代理人: | 无 |
地址: | 610200 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 气流 光谱 异物 剔除 设备 | ||
技术领域
本实用新型主要涉及食品、烟草、生物原料等物料可以通过气流输送的加工行业设备技术领域,特别涉及一种气流式光谱异物剔除设备。
背景技术
保持原料的纯净度,是食品、烟草、生物原料等加工过程中重点关注的内容之一,各种杂质混入原料中,将严重影响产品的品质,目前在食品、烟草、生物原料等加工过程中,基本采用风分形式和抛料形式剔除重杂质,而与物料物理性质相近的杂质只能通过人工挑选的方式剔除,劳动强度大,剔除效率低。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题在于提供一种气流式光谱异物剔除设备,该设备能够更准确的检测物料和异物,并剔除异物。
为了解决上述技术问题,本实用新型通过以下方式来实现:
气流式光谱异物剔除设备包括依次连接的气锁进料装置、重力风分装置、光谱成像识别比对及剔除装置、杂物收集仓、物料输送管道、落料装置、回风管道和补风装置;
所述气锁进料装置设置于重力风分装置侧面,所述物料输送管道位于重力风分装置的上方,所述光谱成像识别比对及剔除装置设置于物料输送管道垂直段侧面,所述杂物收集仓设置于视频识别比对装置及剔除装置的喷吹装置正对面,且与物料输送管道连通,所述落料装置与物料输送管道水平段相连,回风管道进风端与落料装置的风机相接,出风口与重力风分装置底端相连,所述补风装置与重力风分装置底端相连。
所述光谱成像识别比对及剔除装置由控制系统、配电盘、R—C—IR摄像头、气源处理装置、喷吹装置、背景板、照明装置、反光镜和空调系统组成。
与现有技术相比,本实用新型具有的有益效果:
1、现有的除杂设备采用高速抛料装置抛料方式,高速抛料装置维护困难,且不同比重物料的飞行速度和飞行方向不一样,无法剔除物理特性与物料相近的杂质,采用本发明设备维护简单,物料在气流输送过程中进行杂物检测和剔除,物料检测和剔除时物料输送速度和方向是恒定的,漏剔、误剔率低。
2、本实用新型设置了工艺除尘装置,能够在满足剔除异物的同时将碎末或灰尘等除去,使得物料得到更好净化。
3、本实用新型同时设置了重力风分装置,可使大于物料悬浮速度的重杂质有效分离出来。
附图说明
图1为本实用新型的系统结构示意图;
图2为图1的俯视图;
图3为图1中A处的局部放大示意图。
图中各个标记分别为:1、气锁进料装置,2、重力风分装置,3、光谱成像识别比对及剔除装置,4、杂物收集仓,5、物料输送管道,6、落料装置,7、回风管路,8、补风装置,31、控制系统,32、配电盘,33、R—C—IR摄像头,34、气源处理装置,35、喷吹装置,36、背景板,37、照明装置,38、反光镜,39、空调系统。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明。
如图1和图2所示,气流式光谱异物剔除设备包括依次连接的气锁进料装置1、重力风分装置2、光谱成像识别比对及剔除装置3、杂物收集仓4、物料输送管道5、落料装置6、回风管道7和补风装置8;所述气锁进料装置1设置于重力风分装置2侧面,所述物料输送管道5位于重力风分装置2的上方,所述光谱成像识别比对及剔除装置3设置于物料输送管道5垂直段侧面,所述杂物收集仓4设置于视频识别比对装置及剔除装置3的喷吹装置正对面,且与物料输送管道5连通,所述落料装置6与物料输送管道5水平段相连,回风管道7进风端与落料装置6的风机相接,出风口与重力风分装置2底端相连,所述补风装置8与重力风分装置2底端相连。
如图3所示,所述光谱成像识别比对及剔除装置由控制系统31、配电盘32、R—C—IR摄像头33、气源处理装置34、喷吹装置35、背景板36、照明装置37、反光镜38和空调系统39组成。
本实用新型工作过程如下:前方设备送来的物料,首先通过气锁进料装置1的十字翻板旋转,将物料送到重力风分装置2内,在下方气流的作用下,重力风分装置内保持恒定的气流速度,大于悬浮速度的重杂物下落并经下方气锁落料装置排出、单独收集;小于悬浮速度的物料则随气流上升加速进入物料输送管道5内,当物料加速到恒定速度后,以单层均匀通过光谱成像识别比对装置及剔除装置3。
利用物料会反射红外线,而绝大多数黑色的异物不反射红外线的特性,三条光通道通过专用的滤光镜,从可见光谱到近红外光谱,利用三行扫描电荷耦合原件(CCD’s传感器),将图像传输到图像处理控制器,图像处理控制器为独立控制模块,通过计算机与标准样本比对并识别出图像中杂质位置。
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