[实用新型]一种用于检测电子元件表面缺陷的装置有效
| 申请号： | 201420427465.0 | 申请日： | 2014-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN204086157U | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 刘焜裕;陈朝曦;杨芳;徐立刚;张云飞;薛宁;肖上;王萍 | 申请（专利权）人： | 微视科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/94 |
| 代理公司： | 北京纽乐康知识产权代理事务所(普通合伙) 11210 | 代理人： | 史静 |
| 地址： | 美国德克萨斯州*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 电子元件 表面 缺陷 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于检测电子元件表面缺陷的装置，包括支架（1），固定在支架（1）上的光源（4）和相机（2），所述相机（2）上固定有镜头（3），所述光源（4）设置在所述镜头（3）的下方，其特征在于：所述支架（1）上固定连接有镜盒（5），所述镜盒（5）设置在所述光源（4）的下方，所述镜盒（5）包括固定座（501），所述固定座（501）旋转连接镜壳（502），所述镜壳（502）的侧壁上对称设置有四个镜座（503），所述镜座（503）上粘接有平面镜（504）。
2.根据权利要求1所述的用于检测电子元件表面缺陷的装置，其特征在于：所述镜座（503）的安装面有一向外的倾斜角度。
3.根据权利要求2所述的用于检测电子元件表面缺陷的装置，其特征在于：所述镜座（503）的安装面向外倾斜角度为12度。
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