[实用新型]测量电路板表面高度差的检具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电路板制造中使用的检测工具，特别是涉及一种测量电路板表面高度差的检具。

背景技术

半导体测试板主要是应用于IC芯片测试领域的一类电路板，其中的探针卡(Probe Card)板主要应用在芯片封装前的晶圆测试中，使用该探针卡板测试时，探针一端与PCB板相连，一端与晶圆接触。因此，为保证探针与晶圆的良好接触，对探针电路板的共面性要求极高，如要求该电路板外层的高度极差在10-50μm。此外，由于封装基板后端应用也需直接与芯片接触，也提高了对封装基板共面性的品质管控要求。

另外，对于板厚较大的探针卡板来说，即使翘曲很小(例如最大垂直位移小于0.15mm)，但对电路板的共面性影响很大，需要测量并筛选出来；但这细微程度的翘曲，垂直位移距离无法采用常规的塞规或针规来测量，除精密、昂贵的三坐标测量仪外，无其他较操作方便的常规性测量检具。

但是，目前来说，电路板制造行业内测量板共面性的检具一般为三坐标测量仪，而该仪器为精密仪器，价格非常昂贵、保养操作要求严格，不便于常规性的共面性测量、检测。

发明内容

基于此，本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种测量电路板表面高度差的检具，该检具具有操作简单、使用方便、成本低和测量数据可靠的优点，适用于电路板常规性的共面性检测。

为实现上述目的，本实用新型采取以下技术方案：

一种测量电路板表面高度差的检具，包括：

支架，包括底座、支杆、调节杆和水平杆，所述支杆安装于底座上，所述调节杆一端可转动式连接支杆，另一端可转动式连接水平杆；以及

千分表，固定于水平杆上，且该千分表的测量杆与水平杆保持垂直。

本实用新型的测量电路板表面高度差的检具，在对电路板的共面性进行检测时，首先将底座安放于水平的台面上，然后转动调节杆进行角度调节，使固定于水平杆上的千分表测量杆与台面保持垂直，固定调节杆和水平杆的位置。然后将待测电路板置于台面上，以镊子夹住千分表的测量杆向上提起，移动电路板至该测量杆下方，轻轻放下测量杆，读出千分表上的读数。重复提起千分表测量杆、移动电路板，测定电路板上不同位置的高度，从而可由该高度差值得出同一电路板的高度变化极差值，确定该电路板的共面性是否合格。

本实用新型的检具，还可用于测量电路板的翘曲程度，特别适用于翘曲垂直高度小于0.15mm的电路板。测量方法为：首先，用手按住电路板一角、使该处电路板紧贴于台面，利用千分表测量出此时电路板该角位置处的高度h1；然后依次用手按住电路板其它三个角，分别测量出按住不同角时该位置的电路板高度，测量出电路板在此位置的翘曲垂直高度最大值h2，h2-h1的值即为该电路板该角翘曲位移高度；按上述方法依次测量电路板其他三角的翘曲位移高度，取最大位移高度计算该板翘曲情况。

并且，本实用新型的检具，通过灵活可调的支架，能使千分表移动至台面的任一位置，还能灵活调整千分表的高度，使该检具能够适用于各种不同规格的电路板，具有广泛的应用前景。

在其中一个实施例中，所述水平杆上开有安装孔，该安装孔的轴向垂直于所述水平杆，所述千分表穿过该安装孔固定于水平杆上。通过安装孔安装千分表，安装稳定，保证测量时千分表的稳定性，避免产生晃动影响测量结果。

在其中一个实施例中，所述调节杆、水平杆通过油压固定旋钮与支杆连接固定。以油压固定旋钮连接，具有调节方便，角度变化灵敏和稳定的优点。

在其中一个实施例中，所述水平杆上还设有调节千分表固定方向的微调旋钮。利用微调旋钮，使千分表的测量杆可以更精确地与台面(即电路板平面)保持垂直，确保测量数据准确可靠。

在其中一个实施例中，所述底座为磁性表座，其上设有磁性旋钮。在台面上焊接固定有钢板，该检具工作时，磁性表座吸附固定与该钢板上，不需要测量时，将磁性旋钮关闭，就可将该检具从台面撤走，便于仪器保养。

在其中一个实施例中，所述千分表为数显式千分表。数显式的千分表便于操作者读数，可以尽量减少读数误差对测量结果造成的影响。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型的测量电路板表面高度差的检具，既可测量电路板的共面性，又可测量电路板细微翘曲的最大垂直位移高度。具有操作简单、使用方便，仪器成本较低，测量数据可靠的优点，能够广泛适应于各种电路板的“共面性或细微翘曲”常规性检测、品质管控中，从而避免不合格产品流入市场。

附图说明

图1为具体实施方式中的检具结构示意图；