[实用新型]一种波束连续扫描双反射面天线有效

专利信息
申请号: 201420455395.X 申请日: 2014-08-13
公开(公告)号: CN204230437U 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 戴作杏;商远波;玄晓波;张立东 申请(专利权)人: 上海无线电设备研究所
主分类号: H01Q19/19 分类号: H01Q19/19;H01Q15/16
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张妍
地址: 200090 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 波束 连续 扫描 反射 天线
【权利要求书】:

1.一种波束连续扫描双反射面天线,其特征在于,该天线包含:

主反射体(10),所述主反射体(10)呈抛物环面;

次反射体(20),所述次反射体(20)呈椭球面,所述次反射体(20)与所述主反射体(10)相对设置;

馈源(30),所述馈源(30)的相位中心位置与所述次反射体(20)相对设置。

2.如权利要求1所述波束连续扫描双反射面天线,其特征在于,呈椭球面的所述次反射体(20)包含第一焦点、第二焦点。

3.如权利要求2所述波束连续扫描双反射面天线,其特征在于,所述次反射体(20)的第一焦点位置设置在所述主反射体(10)的抛物线焦距延长线上;所述次反射体(20)的第一焦点与所述馈源(30)的相位中心位置相对。

4.如权利要求1所述波束连续扫描双反射面天线,其特征在于,所述主反射体(10)的环线半径为该主反射体(10)的抛物线焦距长度的两倍。

5.如权利要求1所述波束连续扫描双反射面天线,其特征在于,所述馈源(30)为矩形开口波导喇叭天线。

6.如权利要求1所述波束连续扫描双反射面天线,其特征在于,该天线的工作频段为W波段。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海无线电设备研究所,未经上海无线电设备研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420455395.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top