[实用新型]横向对称DMOS管有效

专利信息
申请号: 201420455558.4 申请日: 2014-08-13
公开(公告)号: CN204029815U 公开(公告)日: 2014-12-17
发明(设计)人: 王建全;彭彪;张干;王作义;崔永明;李保霞 申请(专利权)人: 四川广义微电子股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 罗言刚
地址: 629000 四川省遂宁市经济技术开发区内(*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 横向 对称 dmos
【权利要求书】:

1.横向对称DMOS管,其特征在于,包括具备第一掺杂类型的外延层(1)及位于外延层上具备第二掺杂类型的两个有源区(2),有源区上方设置有与有源区欧姆接触的有源区金属电极(5);两个有源区之间为具有第二掺杂类型的漂移区,漂移区中部为具有第一掺杂类型的沟道区(4),所述漂移区和沟道区上方均为绝缘层(8)覆盖,绝缘层(8)上分布有栅极(7)和副栅(6),分别位于沟道区和漂移区上方,所述副栅上具有引线连接孔。 

2.如权利要求1所述的横向对称DMOS管,其特征在于,所述两个有源区上的副栅(6)与栅极(7)平行布置,副栅(6)位于栅极(7)两侧,两根副栅的端头以金属连线(9)对应连接。

3.如权利要求1所述的横向对称DMOS管,其特征在于,所述有源区(2)上方靠近漂移区一侧设置有金属硅化物层(10)。

4.如权利要求1所述的横向对称DMOS管,其特征在于,所述栅极和副栅为类型和厚度相同的多晶硅。

5.如权利要求1所述的横向对称DMOS管,其特征在于,所述副栅为与有源区金属电极相同的金属电极。

6.如权利要求1所述的横向对称DMOS管,其特征在于,还包括紧邻所述有源区(2)远离漂移区的具备第一掺杂类型的衬底电位区(3)。

7.如权利要求1所述的横向对称DMOS管,其特征在于,所述第一掺杂类型和第二掺杂类型分别为P型和N型。

8.如权利要求1所述的横向对称DMOS管,其特征在于,所述第一掺杂类型和第二掺杂类型分别为N型和P型。

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