[实用新型]微型光学扫描测距装置、系统及光学测距系统

权利要求书

1.一种微型光学扫描测距装置，其特征在于，包括：

一底座；

一小基线光学测距系统，安装于所述底座；

一扫描模块，其包括一转盘和倾斜地连接于所述转盘的一反光镜片，其中所述反光镜片位于所述光学测距系统的上方，所述转盘可转动地连接于所述底座；和

一数据处理模块，连接于所述转盘和所述底座，计量所述反光镜片旋转的角度信息。

2.如权利要求1所述的微型光学扫描测距装置，其特征在于，所述小基线光学测距系统固定于所述底座。

3.如权利要求1或2所述的微型光学扫描测距装置，其特征在于，所述数据处理模块为一编码器，包括一编码器码盘和一脉冲感应元件，其中所述编码器码盘固定于所述转盘，所述脉冲感应元件固定于所述底座，且所述脉冲感应元件位于所述编码器码盘附近不产生接触的空间处。

4.如权利要求1，2或3所述的微型光学扫描测距装置，其特征在于，进一步包括安装于所述底座的一动力模块，其包括一动力部件和一传动部件，其中所述传动部件连接于所述动力部件和所述转盘，得以使所述动力部件施加动力给所述转盘，促使所述转盘的转动。

5.如权利要求1，2，3或4所述的微型光学扫描测距装置，其特征在于，所述小基线光学测距系统包括一成像透镜、一感光芯片、一准直光源以及连接于所述感光芯片的一处理器电路，其中所述感光芯片和所述成像透镜光轴保持一个大于0°并小于90°的夹角，所述成像透镜的中心光轴与所述准直光源之间形成一基线，所述准直光源发射的准直光束与所述基线的垂线呈一角度。

6.如权利要求5所述的微型光学扫描测距装置，其特征在于，所述小基线光学测距系统进一步包括一固定结构，得以使所述成像透镜、所述感光芯片、所述准直光源和所述处理器电路固定于所述底座。

7.如权利要求6所述的微型光学扫描测距装置，其特征在于，所述扫描模块进一步包括一支撑元件，其中所述支撑元件得以使所述反光镜片倾斜地安装于 所述转盘的边缘。

8.如权利要求1，2，3，4，5或7所述的微型光学扫描测距装置，所述反光镜片与所述底座所在平面呈45°夹角。

9.如权利要求4所述的微型光学扫描测距装置，其特征在于，所述扫描模块进一步包括一轴承，其连接于所述转盘和所述传动部件之间，得以传递动力给所述转盘。

10.如权利要求1，2或9所述的微型光学扫描测距装置，其特征在于，所述光学测距系统为三角光学测距系统或TOF测距系统。

11.一种光学测距系统，其特征在于，包括：

一成像透镜；

一感光芯片，安装于所述成像透镜的后方，其中所述感光芯片与所述成像透

镜光轴呈一夹角，其中所述夹角大于0°并小于90°；

一准直光源，其与所述成像透镜的中心光轴之间形成一间隔距离；和

一处理器电路，连接于所述感光芯片。

12.如权利要求11所述的光学测距系统，其特征在于，所述准直光源为激光。

13.如权利要求11所述的光学测距系统，其特征在于，所述准直光源为LED光源，且所述光学测距系统进一步包括一聚焦透镜，安装于所述LED光源的前方，以聚焦所述LED光源。

14.如权利要求11，12或13所述的光学测距系统，其特征在于，所述感光芯片为CMOS感光阵列芯片、CCD感光阵列芯片或PSD。

15.如权利要求14所述的光学测距系统，其特征在于，所述感光芯片与所述成像透镜之间呈25°夹角。

16.一种光学扫描测距系统，其特征在于，包括：

一转盘；

一反光镜片，其倾斜地连接于所述转盘；

一数据处理模块，连接于转盘，计量所述反光镜片旋转的角度信息；

一动力部件，其连接于所述转盘，传递动力给所述转盘，得以使所述反光镜

片在所述转盘的转动下转动；和

一光学测距系统，安装于所述反光镜片的下方。