[实用新型]超窄带滤光片的透射率光谱测量装置有效
申请号: | 201420461065.1 | 申请日: | 2014-08-15 |
公开(公告)号: | CN204165650U | 公开(公告)日: | 2015-02-18 |
发明(设计)人: | 马小凤;刘定权;王曙光;蔡清元;陈刚;张莉;朱佳琳 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 窄带 滤光 透射率 光谱 测量 装置 | ||
1.一种超窄带滤光片的透射率光谱测量装置,它包括光源系统(1)、会聚镜(2)、准直镜(3)、样品架(4)、光信号接收系统(5)和数据分析与处理系统(6),其特征在于:
光源系统(1)发射的光依次经过会聚镜(2)和准直镜(3)后垂直照射在垂直放置在样品架(4)上的被测超窄带滤光片上,经滤光片透射后被光信号接收系统(5)所接收并转换成电信号,然后输入到数据分析与处理系统(6),经过数据分析处理得到滤光片的透射率光谱曲线。
2.根据权利要求1所述的一种超窄带滤光片的透射率光谱测量装置,其特征在于:所述的光源系统(1)采用一只发射光波长连续、发射光光谱带宽大于30nm的LED光源。
3.根据权利要求2所述的一种超窄带滤光片的透射率光谱测量装置,其特征在于:所述的光信号接收系统(5)为一个适用于连续波长的激光波长计,该激光波长计的响应波段覆盖所述LED光源的发射光光谱带宽,波长准确度优于0.01nm,光谱分辨率优于0.005nm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420461065.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。