[实用新型]超窄带滤光片的透射率光谱测量装置有效

专利信息
申请号: 201420461065.1 申请日: 2014-08-15
公开(公告)号: CN204165650U 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 马小凤;刘定权;王曙光;蔡清元;陈刚;张莉;朱佳琳 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 窄带 滤光 透射率 光谱 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种超窄带滤光片的透射率光谱测量装置,它包括光源系统(1)、会聚镜(2)、准直镜(3)、样品架(4)、光信号接收系统(5)和数据分析与处理系统(6),其特征在于: 

光源系统(1)发射的光依次经过会聚镜(2)和准直镜(3)后垂直照射在垂直放置在样品架(4)上的被测超窄带滤光片上,经滤光片透射后被光信号接收系统(5)所接收并转换成电信号,然后输入到数据分析与处理系统(6),经过数据分析处理得到滤光片的透射率光谱曲线。 

2.根据权利要求1所述的一种超窄带滤光片的透射率光谱测量装置,其特征在于:所述的光源系统(1)采用一只发射光波长连续、发射光光谱带宽大于30nm的LED光源。 

3.根据权利要求2所述的一种超窄带滤光片的透射率光谱测量装置,其特征在于:所述的光信号接收系统(5)为一个适用于连续波长的激光波长计,该激光波长计的响应波段覆盖所述LED光源的发射光光谱带宽,波长准确度优于0.01nm,光谱分辨率优于0.005nm。 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所,未经中国科学院上海技术物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420461065.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top