[实用新型]CMU测试台

说明书

技术领域

本实用新型属于CMU测试领域，具体涉及一种CMU测试台。

背景技术

目前，国外所使用的CMU系统检测维修设备，都是由国外厂家生产的有关CMU系统测试配套设备。这些设备虽能较好的满足人们的不同测试需求，但该设备价格却极其昂贵，不便于人们购买和使用。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种CMU测试台，结构简单、实用性高，而且造价非常低廉。

本实用新型所采用的技术方案是：一种CMU测试台，包括试验台本体和电缆，所述试验台本体上分别设有与电缆连接的TP端口、MP端口、BP端口和P1接口、测试孔、电源开关、离散量输入开关、测试孔、指示灯和表头，所述试验台本体内设有相互连接的离散信号模块和电源信号模块，所述离散信号模块的信号输入端与测试孔的信号输出端连接，离散信号模块的信号输出端分别与指示灯和表头的信号输入端连接连接，所述电源开关、离散量输入开关的电源输出端分别与电源信号模块的电源输出端连接。

作为优选，所述的电源开关2个，分别为115VAC电源开关和28VDC电源开关。 

作为优选，所述的离散量输入开关为63个。

作为优选，所述的测试孔为45个。

作为优选，所述的指示灯为14个。

作为优选，所述的表头为2个，分别为115VAC电流指示表头和28VDC 电流指示表头。

作为优选，所述的P1接口为1个。

本实用新型的有益效果在于：

（1）本实用新型整体结构非常简单，且所涉及到的电子器件均可以为普通的电子元器件，因此其制作成本及维护成本非常低廉，较现有技术相比有很大幅度的降低。

（2）本实用新型不仅能完全到达国外所引进CMU系统检测维修设备的全部功能，与现有CMU测试台相比较，实用新型整体结构非常简单，且所涉及到的电子器件均可以为普通的电子元器件，因此其制作成本及维护成本非常低廉，不仅能完全到达国外所引进的CMU系统检测维修设备的全部功能，较现有技术相比有很大幅度的降低，本实用新型能够完全替代国外测试设备，而且本实用新型的所有测试控制开关均采用手动控制，更增设了大量指示灯及信号测试孔，使维修、测试、调整更方便快捷。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2A、图2B为本实用新型本实用新型实施例的局部放大示意图。

具体实施方式

下面将结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。

如图1和图2A、图2B所示，一种CMU测试台，包括试验台本体和电缆，所述试验台本体上分别设有与电缆连接的TP端口、MP端口、BP端口和P1接口、测试孔、电源开关、离散量输入开关、测试孔、指示灯和表头，所述试验台本体内设有相互连接的离散信号模块和电源信号模块，所述离散信号模块的信号输入端与测试孔的信号输出端连接，离散信号模块的信号输出端分别与指示灯和表头的信号输入端连接连接，所述电源开关、离散量输入开关的电源输出端分别与电源信号模块的电源输出端连接。

作为优选，所述的电源开关2个，分别为115VAC电源开关和28VDC电源开关。 

作为优选，所述的离散量输入开关为63个。

作为优选，所述的测试孔为45个。

作为优选，所述的指示灯为14个。

作为优选，所述的表头为2个，分别为115VAC电流指示表头和28VDC 电流指示表头。

作为优选，所述的P1接口为1个。

其具体实现功能如下：

1、开关说明：

电源开关：

a)    S1为115VAC电源总开关，向上为ON，向下为OFF；

b)    S2为28VDC电源总开关，向上为ON，向下为OFF；

离散量输入开关：

c)    S3 PGM A控制开关，向上为接地，向下为断开；

d)    S4 PGM B控制开关，向上为接地，向下为断开；

e)    S5 PGM C控制开关，向上为接地，向下为断开；

f)    S6 PGM D控制开关，向上为接地，向下为断开；

g)    S7 SDI 1控制开关，向上为接地，向下为断开；

h)    S8 SDI 2控制开关，向上为接地，向下为断开；

i)    S9 DATA LDR控制开关，向上为接地，向下为断开；

j)    S10 OAT DTR控制开关，向上为接地，向下为断开；