[实用新型]磁致伸缩导波传感器及含有传感器的换热管缺陷检测系统有效
申请号: | 201420492407.6 | 申请日: | 2014-08-28 |
公开(公告)号: | CN204129008U | 公开(公告)日: | 2015-01-28 |
发明(设计)人: | 武新军;汪玉刚;孙鹏飞 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04;G01N29/34;G01N29/24 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 伸缩 导波 传感器 含有 热管 缺陷 检测 系统 | ||
1.用于换热管缺陷检测的磁致伸缩导波传感器,其特征在于:包括外壳(5),所述外壳(5)整体呈圆柱形,外壳(5)的外侧壁上设置有第一环形布线槽和第二环形布线槽,所述第一环形布线槽和第二环形布线槽内分别放置有激励线圈(7)和接收线圈(11),激励线圈(7)和接收线圈(11)均为螺线管线圈,外壳(5)内腔在对应于激励线圈(7)和接收线圈(11)的位置分别放置有激励磁铁(6)和接收磁铁(10),所述激励磁铁(6)和接收磁铁(10)均为钐钴永久磁铁,所述激励磁铁(6)和接收磁铁(10)均呈圆柱形且极化轴线均平行于外壳(5)的轴线,外壳(5)的一端连接有插头连接座(4),插头连接座(4)上连接有激励插头(2)和接收插头(1),激励插头(2)通过激励导线与激励线圈(7)相连接,接收插头(1)通过接收导线与接收线圈(11)相连接,激励插头(2)和接收插头(1)均安装在插头连接座(4)远离外壳(5)的一侧。
2.根据权利要求1所述的用于换热管缺陷检测的磁致伸缩导波传感器,其特征在于:所述激励磁铁(6)和接收磁铁(10)之间设置有中间定位件(9),中间定位件(9)位于外壳(5)内且其两端分别与激励磁铁(6)和接收磁铁(10)相抵接。
3.根据权利要求1所述的用于换热管缺陷检测的磁致伸缩导波传感器,其特征在于:所述外壳(5)远离插头连接座(4)的一端安装有端部定位件(12),所述端部定位件(12)的一端伸入外壳(5)内与接收磁铁(10)相抵接。
4.根据权利要求1所述的用于换热管缺陷检测的磁致伸缩导波传感器,其特征在于:所述插头连接座(4)靠近外壳(5)的一侧延伸有柱台(20),所述柱台(20)伸入外壳(5)内部并与激励磁铁(6)相抵接,柱台(20)上设置有便于激励导线和接收导线穿过柱台(20)的走线孔(21)。
5.根据权利要求1所述的用于换热管缺陷检测的磁致伸缩导波传感器,其特征在于:所述插头连接座(4)包括箱体(23)和盖在箱体(23)上盖板(3),所述激励插头(2)和接收插头(1)均安装在盖板(3)上。
6.根据权利要求1所述的用于换热管缺陷检测的磁致伸缩导波传感器,其特征在于:所述外壳(5)、端部定位件(12)、中部定位件(9)和插头连接座(4)均由绝缘材料制成。
7.根据权利要求1所述的用于换热管缺陷检测的磁致伸缩导波传感器,其特征在于:所述外壳(5)上设置有便于激励导线和接收导线走线的走线长槽,所述第一环形布线槽、第二环形布线槽和走线长槽内均灌封有环氧树脂(8)。
8.根据权利要求1所述的用于换热管缺陷检测的磁致伸缩导波传感器,其特征在于:所述激励磁铁(6)的长度为激励线圈(7)的宽度的两倍以上,所述接收磁铁(10)的长度为接收线圈(11)的宽度的两倍以上。
9.换热管缺陷检测系统,其特征在于:包括权利要求1~8中任一权利要求所述的磁致伸缩导波传感器;
所述磁致伸缩导波传感器的激励插头(2)上连接有功率放大器(15),所述功率放大器(15)上连接有信号发生器(16),信号发生器(16)上连接有计算机(17),计算机(17)控制信号发生器(16)产生正弦脉冲电流信号,电流信号经过功率放大器(15)放大后输入到激励线圈(7),激励磁铁(6)在换热管(14)中产生沿管道轴向的静态磁场,激励线圈(7)在换热管(14)中产生沿管道轴向的交变磁场,通过磁致伸缩效应,从而直接在换热管(14)内激励产生沿着换热管(14)轴向传播的纵向模态超声导波;
计算机(17)上连接有A/D转换器(18),所述A/D转换器(18)上连接有滤波放大器(19),所述滤波放大器(19)与磁致伸缩导波传感器的接收插头(1)相连接,纵向模态超声导波经换热管(14)反射后,反射回波经过接收线圈(11)时,通过逆磁致伸缩效应,引起接收线圈(11)感应电压的变化,产生电信号,此电信号经过滤波放大器(19)和A/D转换器(18)后被计算机(17)接收获得信号波形图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420492407.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于硅烷色谱分析的采样系统
- 下一篇:基于磁致伸缩导波的检测传感器及检测系统