[实用新型]一种固体电介质材料陷阱参数采集系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种绝缘材料介电性能测试装置，尤其涉及一种固体电介质材料陷阱参数采集系统。

背景技术

目前,聚合物绝缘材料以及油浸绝缘因其良好的介电性能而在电气绝缘领域得到广泛应用。但随着电力系统电压等级的提高以及直流输电技术的发展，聚合物绝缘的空间电荷效应问题日渐突出，由此导致聚合物材料内部电场畸变，引发局部放电及电树枝发展，从而造成材料老化和绝缘失效问题，如何抑制和消除绝缘中的空间电荷已经成为国内外电气绝缘领域的研究热点。

目前关于聚合物老化机理的研究很多，其中比较有代表性的是加拿大的高观志(Kwan-Chi Kao)和国内西安交通大学的屠德民等人提出的热电子引发聚合物降解理论。在高电场作用下，电子/空穴通过肖特基效应(Schottky effect)或福勒-诺德海姆效应(Fowler-Nordheim effect)从电极注入到聚合物中，由于材料禁带能隙内存在大量的陷阱态，电子/空穴的平均自由路径短，因此很快被陷阱俘获而形成空间电荷。在空间电荷的入陷/复合过程中，当电荷由高能态迁移到低能态时，多余的能量通过非辐射形式转移给另一个电子，使后者变成热电子。具有足够能量的热电子将导致分子降解而形成大量的大分子自由基，将进一步引发自由基链式反应，导致聚合物的进一步降解。热电子的产生和热电子的能量决定于陷阱的密度和深度，改变聚合物的陷阱深度或密度，就能改变热电子的形成几率和能量。因此测量和分析材料的陷阱特性如能级、密度等，对于材料的空间电荷形成和抑制机理以及聚合物材料的老化状态表征和评估具有十分重要的意义。

另一方面，在嵌入式电极系统中，电极附近的陷阱电荷注入、输运、复合以及解吸附过程也会对沿面闪络现象产生重要影响。电介质的陷阱特性及表面带电特性长期以来一直受到广泛关注，认为其与真空条件下介质的沿面闪络特性密切相关。

基于上述分析，陷阱特性十分显著地影响固体电介质材料的介电和放电特性，并可能成为一种更为本征的固体电介质材料性能表征参数，因此测量和分析固体绝缘材料的陷阱参数具有十分重要的意义。目前国内研究人员一般通过测量等温表面电位衰减获得衰减电流，进而得到材料表面的陷阱信息。但多数测量系统都存在系统充电效果不均匀、电荷注入不充分、测量记录需要人工操作等问题，从而造成了测量结果分散性大、重复性差、精度低等结果。

目前关于表面电位测量与记录，大多采用等间隔时间人工方式记录，耗费时间，记录不够准确。多数测量系统在完成电晕充电后，需要手动将针尖更换为电位探头测量表面电位衰减，此过程需要较长的时间，难以测量充电完成后的瞬时电位信息。

充分的电荷注入是准确测量材料陷阱特性的关键，固体电介质材料需要在较高温度(因材料而异，一般为60～80℃)下才能获得较为充分的电荷注入。现有测试系统没有加热条件，难以实现固体电介质材料的预热，严重影响实验效果。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种固体电介质材料陷阱参数采集系统，能够地进行固体电介质材料的陷阱能级和陷阱密度参数的采集，具有适用范围广、测量精度高、操作简单方便的特点。

本实用新型采用下述技术方案：

一种固体电介质材料陷阱参数采集系统，包括恒温箱以及设置在恒温箱内的三电极电晕充电系统、表面电位测量系统、旋转支撑系统和温度控制系统；

所述的三电极电晕充电系统包括从上至下同轴设置的多针电极和接地的金属圆盘电极，多针电极连接直流充电电源，金属圆盘电极的上表面用于放置待测试样，金属圆盘电极包括上下接触且偏心设置的铜电极和铝电极；

所述的表面电位测量系统包括设置在可调式绝缘固定架上的电容式静电探头，电容式静电探头的输出端依次连接恒温箱外的信号调理电路和信号采集电路；

所述的旋转支撑系统包括设置在恒温箱内的上表面为金属铝板的绝缘支撑架，金属铝板的上表面设置有金属转盘，金属转盘的上表面设置有金属加热盒，金属圆盘电极放置在金属加热盒上表面；当进行待测试样电荷注入时，待测试样位于多针电极下方；当进行表面电位衰减测量时，待测试样位于电容式静电探头下方；

所述的温度控制系统包括设置在金属加热盒内的第一加热装置，以及设置在金属铝板下方绝缘支撑架上的第二加热装置，恒温箱外的温度控制器控制连接第一加热装置和第二加热装置。