[实用新型]一种用于SLED光源的谱宽测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于SLED光源的谱宽测量装置，属于光谱特征测量技术领域。

背景技术

近年来随着光纤传感技术的迅速发展，光纤陀螺仪、光纤水听器、光纤传感安防系统也相应得到更广泛深入的应用，从以前单一的军事应用发展到现在的民用领域。

由于这些光纤传感系统所应用的具体技术原理不同，使用的激光光源种类并不一样，仅以光纤传感安防系统为例，所应用的就有M-Z、sagnac、OTDR诸多技术路线，因而，所涉及的激光光源有DFB-LD型、光纤激光器、ASE光源等多种类型。但是，由于低相干宽谱光源能较好地抑制光纤中瑞利散射和克尔效应等带来的干扰和负面影响，因而基于宽谱激光光源技术的光纤陀螺仪、光纤传感安防系统、光纤水听器在光纤传感器中占据着越来越重要的份额，特别在光纤陀螺仪的应用上除使用宽谱激光光源外几乎不会使用其它类型的激光光源。而SLED光源则为一种最典型的宽谱激光光源。

但是，激光光源的谱宽也并不是越宽越好，而是在一定范围内才能达到最佳效果，以光纤陀螺仪为例，理论上光源谱宽越宽，其抑制测量误差的效果会越好，但过宽又会对系统标度因素的线性度、稳定性产生不良影响，因此，选择适当谱宽的SLED光源非常重要，为此需要一种能够精确测量SLED谱宽的装置来选择SLED光源。毫无疑问，使用光纤光谱仪能够实现这一目的，并且还能够获得激光光源的其它物理特征参数，但是问题在于，目前，光纤光谱仪价格仍十分昂贵，而在光纤陀螺仪此类应用中我们并不需要获取激光光源的其它详细物理特征如纹波特征等，对光纤光谱仪能够测量所有激光类光源的谱宽其实也并不关注，因而，急需一种成本低廉、能快速测量SLED型激光光源谱宽的装置，来解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有的光纤光谱仪价格昂贵，难以普及推广以测量SLED光源的谱宽，本实用新型的用于SLED光源的谱宽测量装置，能快速精确测量SLED光源的谱宽，成本低廉，使用方便，具有良好的应用前景。

为了达到上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：

一种用于SLED光源的谱宽测量装置，其特征在于：包括待测量SLED光源、第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器、光纤环形器、3×3光纤耦合器、光功率在线测量计、第一2×2光纤耦合器、第二2×2光纤耦合器、光纤铌酸锂相位调制器、第一法拉第旋转反射镜、延迟光纤线、第二法拉第旋转反射镜和数据终端，

所述待测量SLED光源、第二光电探测器分别通过光纤环形器与3×3光纤耦合器相连接，所述第一光电探测器、第三光电探测器分别与3×3光纤耦合器相连接，所述3×3光纤耦合器分别与第一2×2光纤耦合器、第二2×2光纤耦合器相连接，所述第一2×2光纤耦合器通过光纤铌酸锂相位调制器与第一法拉第旋转反射镜相连接，所述第二2×2光纤耦合器通过延迟光纤线与第二法拉第旋转反射镜相连接，所述第一2×2光纤耦合器、第二2×2光纤耦合器通过光纤相联通，所述3×3光纤耦合器还与光功率在线测量计相连接，所述第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器通过电缆分别与数据终端相连接。

前述的一种用于SLED光源的谱宽测量装置，其特征在于：用于测量SLED光源谱宽的光路途径至少为两条，且存在两条两束光路发生干涉。

本实用新型的有益效果是：本实用新型的用于SLED光源的谱宽测量装置，能快速精确测量SLED光源的谱宽，成本低廉，使用方便，具有良好的应用前景。

附图说明

图1是本实用新型的用于SLED光源的谱宽测量装置的系统框图。

图2是本实用新型的用于SLED光源的谱宽测量方法的流程图。

图3是本实用新型的SLED光源的光谱图。

具体实施方式

下面将结合说明书附图，对本实用新型作进一步说明。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。

如图1所示，实线为光纤；虚线为电缆，本实用新型的用于SLED光源的谱宽测量装置，包括待测量SLED光源1、第一光电探测器2、第二光电探测器3、第三光电探测器4、光纤环形器5、3×3光纤耦合器6、光功率在线测量计7、第一2×2光纤耦合器8、第二2×2光纤耦合器9、光纤铌酸锂相位调制器10、第一法拉第旋转反射镜11、延迟光纤线12、第二法拉第旋转反射镜13和数据终端14，