[实用新型]几何公差测量仪有效
| 申请号： | 201420538221.X | 申请日： | 2014-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN204085369U | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 王帅 | 申请（专利权）人： | 大连工业大学 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 116000 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 几何 公差 测量仪 | ||
【权利要求书】：
1.一种几何公差测量仪，其特征在于：包括：两个被测物支架、支撑架(2)、百分表(1)、导轨(3)、连接件(6)；所述两个被测物支架放置在水平面(7)上，且两者之间设有支撑架(2)；所述支撑架(2)上设有两根相互平行的导轨(3)，且导轨(3)与水平面(7)平行；所述两导轨(3)之间设有连接件(6)，连接件(6)能在导轨(3)上水平滑动；所述连接件(6)的两端分别设有百分表(1)，且两个百分表(1)的侧头相对设置。
2.根据权利要求1所述的几何公差测量仪，其特征在于：所述支撑架(2)下端设有高度调节螺栓。
3.根据权利要求1所述的几何公差测量仪，其特征在于：所述被测物支架为V型架(5)。
4.根据权利要求1所述的几何公差测量仪，其特征在于：所述连接件(6)两端设有定位孔，所述百分表(1)通过定位孔设置在连接件(6)上。
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