[实用新型]一种热重分子束质谱联用装置有效

专利信息
申请号: 201420547763.3 申请日: 2014-09-23
公开(公告)号: CN204086065U 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 周忠岳;齐飞;潘洋;杨玖重;王国情 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G01N5/04 分类号: G01N5/04;G01N27/64
代理公司: 合肥金安专利事务所 34114 代理人: 金惠贞
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 分子 束质谱 联用 装置
【权利要求书】:

1.一种热重分子束质谱联用装置,包括热重分析仪(1)和质量分析器(4),其特征在于:还包括电离源(3)和分子束取样机构(2);所述电离源(3)包括管状的电离腔和依次连接的第一电极(31)、第二电极(32)、第三电极(33),第三电极(33)的末端连接着质量分析器(4)的加速电极;分子束取样机构(2)为二级差分结构,包括管状的加热炉(12)和取样喷嘴,加热炉(12)内中部同轴设有坩埚(13),坩埚(13)的底部连通着支撑杆的上端,支撑杆的下端连通着热重分析仪(1)的天平;加热炉(12)内上部同轴设有取样喷嘴,取样喷嘴为二级差分结构,其下端为进口,且进口位于坩埚(13)的上方;加热炉(12)的上端连接电离源(3)的电离腔,且对应着第一电极(31)和第二电极(32)之间的电离区域;加热炉(12)的下端密封连接着热重分析仪(1)的外壳体;所述坩埚(13)上的被测物在温度作用下形成逸出产物(23),逸出产物(23)在气压作用下经过分子束取样机构(2)进入电离源(3),再进入质量分析器(4),气压逐级递减,逸出产物(23)在电离源(3)的电离腔内形成分子束。

2.根据权利要求1所述的一种热重分子束质谱联用装置,其特征在于:二级差分结构的取样喷嘴包括结构相同的喷嘴管(21)和准直漏勺(22),所述准直漏勺(22)同轴位于喷嘴管(21)内;二者的上部均为直管,下部为圆锥管,圆锥管的下端为圆锥口;准直漏勺(22)下端的圆锥口位于喷嘴管(21)下端的圆锥口的上方,喷嘴管(21)下端的圆锥口为进口。

3.根据权利要求1所述的一种热重分子束质谱联用装置,其特征在于:所述取样喷嘴的材料为石英、陶瓷、玻璃碳;取样喷嘴和加热炉(12)安装时,二者之间采用石墨材料密封。

4.根据权利要求1或2所述的一种热重分子束质谱联用装置,其特征在于:所述电离源(3)中的第一电极(31)、第二电极(32)、第三电极(33)均为环形聚焦电极,所述电离源(3)位于取样喷嘴的上方,与坩埚(13)中逸出产物(23)形成的分子束垂直交叉;电离源(3)中的电离腔的下端固定密封连接着加热炉(12)的上端,电离腔的上端固定密封连接着第一分子泵(5);电离源(3)加电压形成聚焦电场,第一分子泵(5)维持电离腔内的真空,在使用过程中,电离源(3)既可以使用电子轰击电离,也可以使用光电离。

5.根据权利要求1或2所述的一种热重分子束质谱联用装置,其特征在于:所述质量分析器(4)内为真空状态,真空度由第二分子泵(6)维持,在使用过程中,质量分析器(4)既可以是飞行时间质谱,也可以是四极质谱或离子阱质谱。

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