[实用新型]一种测试探针压力调整装置有效

专利信息
申请号: 201420557627.2 申请日: 2014-09-26
公开(公告)号: CN204116980U 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 黄俊华;谭艳萍;王星;翟学涛;杨朝辉;高云峰 申请(专利权)人: 深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司
主分类号: G05D15/01 分类号: G05D15/01;G01R31/28;G01R1/067
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 汪琳琳
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 探针 压力 调整 装置
【权利要求书】:

1.一种测试探针压力调整装置,其特征在于:该压力调整装置包括光电探测传感器(1)、传感器工作及模拟电压输出电路(2)、微处理器(3)、数模转换模块(4)、模拟电压比较模块(5)、显示电路(6)和上位机(9);

所述光电探测传感器(1)实时探测测试探针(8)的位移量,并将所述位移量转化为电流量,根据光电探测传感器(1)的电流量推算得到测试探针(8)的压力;

所述传感器工作及模拟电压输出电路(2)接收来自光电探测传感器(1)输出的电流量,并将其转化成模拟电压,输出给模拟电压比较模块(5);

所述上位机(9)将设置或修改测试探针(8)压力的参数指令下发给微处理器(3);

所述微处理器(3)存储来自上位机(9)的参数指令,并生成数字信号输出给数模转换模块(4);

所述数模转换模块(4)将接收到的数字信号转换成参考模拟电压信号,并输出给模拟电压比较模块(5);

所述模拟电压比较模块(5)对分别来自传感器工作及模拟电压输出电路(2)和数模转换模块(4)输出的模拟电压进行比对,生成高或低的IO电平信号,输出给微处理器(3);模拟电压比较模块(5)还将所述IO电平信号输出给显示电路(6)进行显示;

微处理器(3)根据所述IO电平信号和生成的数字信号,得到测试探针(8)的工作压力;若所述测试探针(8)的工作压力与微处理器(3)存储包含压力的参数指令不同时,则微处理器(3)重新生成数字控制信号,调整数模转换模块(4)输出的参考模拟电压信号,进而调整测试探针(8)的工作压力;若所述测试探针(8)的工作压力达到微处理器(3)存储包含压力的参数指令时,则微处理器(3)输出IO控制信号,通过外部运动控制系统控制测试探针(8)停止下针运动。

2.根据权利要求1所述的测试探针压力调整装置,其特征在于:所述显示电路(6)实时显示IO电平信号,通过所述IO电平信号得知传感器工作及模拟电压输出电路(2)和数模转换模块(4)输出的模拟电压情况。

3.根据权利要求1所述的测试探针压力调整装置,其特征在于:所述光电探测传感器(1)采用对射型或反射型光电传感器,采用反射型光电传感器需要在测试探针上设置一个反光片。

4.根据权利要求1所述的测试探针压力调整装置,其特征在于:所述光电探测传感器(1)采用U型对射型光电传感器。

5.根据权利要求1所述的测试探针压力调整装置,其特征在于:所述微处理器(3)采用FPGA、CPLD或者其它逻辑器件替代。

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