[实用新型]薄片类介质厚度检测机构及处理装置、纸币清分机

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种薄片类介质厚度检测机构以及使用该薄片类介质厚度检测机构的薄片类介质处理装置和纸币清分机。

背景技术

自动检票机、纸币清分机等薄片类介质处理装置通常需要设置厚度检测机构，用于检测车票、纸币等薄片类介质(以下简称介质)是否为单张介质，防止重张或者表面粘连有异物的介质进入薄片类介质处理装置。

中国专利CN201210356761.1提供了一种用于检测介质厚度的检测机构，如图1a、图1b所示，该检测机构包括固定架17'、基准轴11'、轴承21'、检测轴13'，以及沿检测轴13'轴向排列的多个检测组件，其中，基准轴11'和检测轴13'相对平行地设置在固定架17'上，在基准轴11'上固定套接有基准辊12'；检测组件包括基座14'、测厚辊16'、弹片15'、磁铁18'，以及霍尔传感器19'，其中，基座14'套接在检测轴13'上且可绕检测轴13'自由旋转，测厚辊16'枢接在基座14'上，弹片15'固定在固定架17'上，且向基准辊12'方向偏压基座14'，使测厚辊16'弹性地按压在基准辊12'上，磁铁18'设置在弹片15'的自由端的背向测厚辊16'一侧，霍尔传感器19'对应地设置在固定架17'上，与磁铁18'配合，当介质20'通过基准辊12'与测厚辊16'之间时，基座14'克服弹片15'的弹性力绕检测轴13'转动，弹片15'的自由端向上方抬起而移位，使磁铁18'与霍尔传感器19'之间的距离发生变化，霍尔传感器19'的输出信号发生变化，据此可以判断由基准辊12'与测厚辊16'之间通过的介质20'是否为单张介质。

这种薄片类介质厚度检测机构的问题在于，初始状态，测厚辊16'弹性地按压在基准辊12'上位于初始位置，工作状态下，纸币一张接一张地由测厚辊16'与基准辊12'之间穿过，每张纸币进入测厚辊16'和基准辊12'之间时，测厚辊16'被抬起，当纸币退出测厚辊16'和基准辊12'时，测厚辊16'落下至初始位置，当基准辊12'和测厚辊16'处于高速旋转状态时，测厚辊16'高频率地抬起、落下将会产生大量噪音，影响工作环境。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种降低噪音的薄片类介质厚度检测机构，本实用新型的目的还在于提供一种使用该厚度检测机构的薄片类介质处理装置以及纸币清分机。

本实用新型第一方面提供了一种薄片类介质厚度检测机构，包括机架、基准辊、支撑轴和检测组件，基准辊和支撑轴相对平行设置在机架上，检测组件包括支撑架、测厚辊、传感器和感应件，支撑架与支撑轴枢接，测厚辊设置在支撑架上且平行于基准辊，还包括间隙调节组件，用于调节测厚辊与基准辊之间的间隙d，其中，间隙d小于单张薄片类介质的厚度。

进一步地，薄片类介质厚度检测机构包括沿支撑轴的轴向排列的多个检测组件和与多个检测组件一一对应设置的多个间隙调节组件，每个间隙调节组件用于调节对应的检测组件的测厚辊与基准辊的间隙d。

进一步地，间隙调节组件包括位置可调节地设置的施力部，施力部与支撑架抵接。

进一步地，检测组件还包括第一弹性元件，第一弹性元件对支撑架施加使间隙d具有减小趋势的第一弹性力。

进一步地，间隙调节组件包括基座、调节块、枢接轴和调节螺钉，其中，基座与机架固定连接，调节块通过枢接轴与基座枢接，包括位于枢接轴两侧的受力部和施力部，调节螺钉与基座螺纹配合并与受力部抵接，施力部与支撑架抵接。

进一步地，施力部与支撑架的抵接处与枢接轴之间的距离小于受力部与调节螺钉的抵接处与枢接轴之间的距离。

进一步地，间隙调节组件还包括第二弹性元件，第二弹性元件对调节块施加使受力部抵接于调节螺钉的第二弹性力。

本实用新型第二方面提供一种薄片类介质处理装置，包括薄片类介质厚度检测机构，其中，薄片类介质厚度检测机构为本实用新型第一方面中任一项的薄片类介质厚度检测机构。

本实用新型第三方面提供一种纸币清分机，包括沿纸币输送方向依次设置的入币口、送币机构、纸币厚度检测机构、纸币鉴别机构和至少一个出币口，其中，纸币厚度检测机构为本实用新型第一方面中任一项薄片类介质厚度检测机构。