[实用新型]一种TFT基板玻璃A型架检验装置

说明书

技术领域

本实用新型属于测量领域，具体涉及一种TFT基板玻璃A型架检验装置。

背景技术

在现有的TFT基板玻璃生产中，TFT基板玻璃板的收集、搬运、运输上线使用都需要专用的A型架进行周转，由于A型架使量大，周转、搬运频繁，尺寸一致性很重要。每个品种的A型架尺寸相对一致是保证A型架上线使用的一个条件。A型架检验装置技术就是计量A型架尺寸，判断A型架是否合格，尺寸规格的一致性的检测。对主要尺寸检验，如图1所示，A型架使用功能的主要尺寸包括：底部的长度、底部的宽度、底部的高度(即底面和放置面之间相隔最远的距离)、放置面的角度、放置面的宽度、背面的角度、背面的度；以确保A型架的一致性，更好的投到生产线使用。现有为逐项用尺子检验，测量不准确，效率低。

发明内容

为了解决现有技术中的问题，本实用新型提出一种能够一体化、多规格测量A型架尺寸，快速判断A型架是否可以使用，保证测量准确度，提高测量效率的TFT基板玻璃A型架检验装置。

为了实现以上目的，本实用新型所采用的技术方案为：包括底部检测装置和放置部位检测装置，底部检测装置包括相互垂直设置的第一测量杆和第二测量杆，第一测量杆和第二测量杆的形成L形测量架，第一测量杆和第二测量杆均为中空结构，第一测量杆和第二测量杆的空腔内分别设置有第一测量尺和第二测量尺，第一测量尺和第二测量尺能够分别在第一测量杆和第二测量杆的空腔中抽拉移动，第一测量尺和第二测量尺的中心线分别与第一测量杆和第二测量杆的中心线重合，第一测量杆和第二测量杆上的刻度的零点均为两者相交内侧的拐角点处，第一测量尺和第二测量尺的零点均位于两者的最外端；

所述的放置部位检测装置包括相互转动连接的放置面测量杆和背部测量杆，以及用于测量底部高度的测量尺，放置面测量杆和背部测量杆为中空结构，空腔内分别设置有能够抽拉移动的放置面刻度尺和背部刻度尺，放置面刻度尺和背部刻度尺的中心线分别与放置面测量杆和背部测量杆的中心线重合，放置面测量杆和背部测量杆的刻度零点均从连接的最底端开始，放置面刻度尺和背部刻度尺的零点均位于两者的最外端，所述的放置面测量杆和背部测量杆上均设置有角度测量规，用于测量A型架放置面和背面的角度。

所述的第一测量尺、第二测量尺、放置面刻度尺和背部刻度尺的最外端均设置为倒勾结构，便于卡住测量面的边部。

所述的放置面刻度尺的倒勾结构上设置有放置面基准划线，便于测量尺的零点对齐。

所述的第一测量杆、第二测量杆、放置面测量杆和背部测量杆上均设置有手轮，手轮上固定连接有螺杆，第一测量杆、第二测量杆、放置面测量杆和背部测量杆上均设置有对应的螺孔，手轮带动螺杆伸入空腔内，能够通过拧动手轮固定或松开第一测量尺、第二测量尺、放置面刻度尺和背部刻度尺。

所述的第一测量杆和第二测量杆通过手轮连接在一起，手轮的螺杆穿过第一测量杆和第二测量杆的螺孔，手轮拧紧将两者固定。

所述的放置面测量杆和背部测量杆通过铰链连接，能够实现相对转动。

所述的角度测量规为指针或数显式角度规。

与现有技术相比，本实用新型的底部检测装置为相互垂直的测量杆，适应了A型架底部的形状特征，同时通过设置在测量杆上能够抽拉的测量尺对测量行程进行加长，两者共同配合能够测量A型架的底部的长度和宽度；放置部位检测装置为两根可以相互转动的测量杆，适应了A型架的放置面和背面之间的角度，满足了对不同规格A型架的测量，可以抽拉的刻度尺配合测量杆，两者配合测量A型架放置面的宽度和背面的长度，同时通过分别设置在两个测量杆上的角度测量规，能够得到放置面和背面的角度，以及独立设置的测量底部高度的测量尺，靠在放置面刻度尺边部，测量底部的高度，本实用新型能够测量A型架的各个尺寸，通过尺寸的测量从而检验A型架是否合格，本实用新型能够适用于各种不同型号的A型架，运用面广，同时这样一体化的设计，一次能够得到多组数据，提高了测量效率，各个部件连接紧密，设计精密，提高了测量的精度。

进一步，在测量尺以及刻度尺的最外端设置有倒勾结构，能够卡住被测面的边部，在测量时能够使测量尺及测量杆紧靠在被测面上，提高了测量的精度。

更进一步，放置面刻度尺的倒勾结构上有放置面基准划线，便于底部高度测量尺的零点对齐，便于操作，提高测量精度。

更进一步，通过手轮实现对测量尺的限位固定，测量时使测量尺的长度可调，拧紧手轮利用螺杆卡在测量尺上实现对测量尺的固定，拧松手轮调节测量尺的长度，便于操作，限位稳定，提高装置的稳定性，从而提高测量的精度。