[实用新型]一种芯片输入输出管脚测试装置

说明书

技术领域

 本实用新型涉及测试装置领域，特别涉及一种芯片输入输出管脚测试装置。

背景技术

测试验证芯片的输入输出管脚（I/O）状态，一直是许多工程师必须且繁琐的工作之一，无论是新平台的芯片默认复位之后的验证，还是在设计工作中的对上下拉电阻值的测量都会耗费大量的时间。

现有的测试方法是在所需要测的I/O上面手动飞线加上拉电阻到VDD（IO上拉电压），用万用表量电压值，然后去掉上拉电阻和VDD，再接下拉电阻到地，再用万用表量电压值；为了测试上拉电阻以及下拉电阻的精确度，通常需要加多组不同的阻值来测试。其存在如下缺点：

1、外接电阻需要飞线，飞线可能导致PCB板接触不良甚至短路等风险；

2、测试时候需要换多组电阻，每一次都需要重新测量和飞线，非常繁琐；

3、测试时候需要人为记录数据，增加了记录错位的可能；

4、使用万用表读ADC误差可能比较大，测试时候由于焊接点比较多，进一步增加了测试的误差。

有鉴于此，本领域发明人针对上述问题，提供了一种芯片输入输出管脚测试装置。

发明内容

 本实用新型提供了一种芯片输入输出管脚测试装置，克服了现有技术的困难，能够方便工程师快速测试I/O的状态，减少测试过程中的飞线等可能引起的故障。

本实用新型提供了一种芯片输入输出管脚测试装置，包括：

一微控制芯片，

多组分别并联在电源电压与接地之间的检测单元，每组检测单元包括串联的第一电阻和第二电阻；

第一检头，连接电源电压；

第二探头，分别连接所述第一电阻和第二电阻之间的节点，并连接到所述微控制芯片的模数转换接口；

每组检测单元的所述第一电阻分别串联一第一场效应晶体管，所述第二电阻分别串联一第二场效应晶体管，所述第一场效应晶体管和第二场效应晶体管的栅极都连接所述微控制芯片。

优选地，每组检测单元的所述第一场效应晶体管串联在所述第一电阻和电源电压之间。

优选地，每组检测单元的所述第二场效应晶体管串联在所述第二电阻和接地之间。

优选地，所述微控制芯片还包括传输数据的接口。

由于采用了上述技术，本实用新型的一种芯片输入输出管脚测试装置与现有技术相比，本实用新型通过上述步骤，能够方便工程师快速测试I/O的状态，减少测试过程中的飞线等可能引起的故障。

以下结合附图及实施例进一步说明本实用新型。

附图说明

图1为本实用新型中芯片输入输出管脚测试装置的电路图；以及

图2为本实用新型的芯片输入输出管脚测试装置的工作流程图。

具体实施方式

下面通过图1至2来介绍本实用新型的一种具体实施例。

实施例1

如图1所示，本实用新型的一种芯片输入输出管脚测试装置，包括一微控制芯片，多组分别并联在电源电压与接地之间的检测单元，每组检测单元包括串联的第一电阻和第二电阻。第一检头，连接电源电压。第二探头，分别连接所述第一电阻和第二电阻之间的节点，并连接到所述微控制芯片的模数转换接口。每组检测单元的所述第一电阻分别串联一第一场效应晶体管，所述第二电阻分别串联一第二场效应晶体管，所述第一场效应晶体管和第二场效应晶体管的栅极都连接所述微控制芯片。

每组检测单元的所述第一场效应晶体管串联在所述第一电阻和电源电压之间。每组检测单元的所述第二场效应晶体管串联在所述第二电阻和接地之间。所述微控制芯片还包括传输数据的接口。

本专利由内部电路实现自动判断输入输出状态，外部引出来2个探头；测试时候用探头分别取探测IO电源VDD和IO的引脚，内部采用微控制芯片MCU来读取模数转换接口ADC电压，MCU读取之后根据读取的ADC值自动来判断IO的状况；计算IO内部上拉电阻以及下拉电阻的大小。

通过多组电阻组成的上下来电阻组成的开关矩阵来提高测量的精度，多次测量取平均值。测试完成的值最后由MCU储存起来，由MCU的UART输出到外部设备读取结果。

本专利可以有效的简化测试过程中的繁琐的测试过程，将飞线，以及万用表的测量全部由MCU自动完成，由UART输出的结果还可以按不同的需求外接不同的设备输出。