[实用新型]一种X射线偏振度的检测系统有效

专利信息
申请号: 201420595427.6 申请日: 2014-10-15
公开(公告)号: CN204086554U 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 施军;肖沙里;彭帝永;刘峰;郭永超 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01T1/00 分类号: G01T1/00;G01T1/36
代理公司: 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 代理人: 李明
地址: 400044 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 一种 射线 偏振 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种X射线偏振度的检测系统,其特征在于,包括壳体、衍射台,以及分别用于检测水平方向衍射光和竖直方向衍射光的两台X射线探测器;

所述壳体采用刚性硬质材料制成;壳体内具有一腔室空间,所述衍射台固定安装在该腔室空间内;壳体上还具有与腔室空间相通的一个光线入射通道和两个光线出射通道,其中,光线入射通道与第一光线出射通道的通道轴线在水平方向上且相互垂直,第二光线出射通道的通道轴线在竖直方向上,且光线入射通道、第一光线出射通道和第二光线出射通道的通道轴线的延长线能够交汇于一点;所述光线入射通道的入射口处密封地安装有能够透射X射线且屈光度为零的透镜挡片,用于检测水平方向衍射光的X射线探测器密封地安装在壳体上第一光线出射通道的出射口处,用于检测竖直方向衍射光的X射线探测器密封地安装在壳体上第二光线出射通道的出射口处,使得壳体内的腔室空间被封闭为一个密闭空间,且所述腔室空间为真空;

所述衍射台具有两个衍射工作面;其中,第一衍射工作面位于光线入射通道的正投影覆盖区域与第一光线出射通道的正投影覆盖区域的交汇处,且第一衍射工作面分别与光线入射通道和第一光线出射通道的通道轴线呈45°±1°角度;第二衍射工作面位于光线入射通道的正投影覆盖区域与第二光线出射通道的正投影覆盖区域的交汇处,且第二衍射工作面分别与光线入射通道和第二光线出射通道的通道轴线呈45°±1°角度;所述第一衍射工作面和第二衍射工作面上均固定安装有从衍射工作面向内凹陷且凹陷面呈球冠状的晶体薄片。

2.根据权利要求1所述的X射线偏振度的检测系统,其特征在于,所述壳体采用不锈钢、铝或者铝合金制成。

3.根据权利要求1所述的X射线偏振度的检测系统,其特征在于,所述壳体内腔室空间为压强在10-2帕以下的真空。

4.根据权利要求1所述的X射线偏振度的检测系统,其特征在于,所述壳体上光线入射通道的入射口处密封安装的透镜挡片为贴有铍膜的玻璃板挡片。

5.根据权利要求1所述的X射线偏振度的检测系统,其特征在于,所述晶体薄片的材质为云母、硅或石英。

6.根据权利要求1所述的X射线偏振度的检测系统,其特征在于,还包括偏振度计算机;所述偏振度计算机的两个数据采集端分别与两台X射线探测器的X射线光谱强度探测信号输出端进行数据通信连接。

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