[实用新型]光投射头、光学传感器有效
申请号: | 201420606736.9 | 申请日: | 2014-10-20 |
公开(公告)号: | CN204203494U | 公开(公告)日: | 2015-03-11 |
发明(设计)人: | 今村真也 | 申请(专利权)人: | 松下神视株式会社 |
主分类号: | G02B6/00 | 分类号: | G02B6/00 |
代理公司: | 北京泛诚知识产权代理有限公司 11298 | 代理人: | 吴立;文琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 投射 光学 传感器 | ||
技术领域
本实用新型涉及光投射头和光学传感器。
背景技术
以往以来,已知有包括光投射头和光接收头,并通过用光接收头接收从光投射头出射的光来检测测定对象物的有无的光学传感器。光投射头具有例如透镜等光学部件,并将沿着该光学部件的光轴的光朝向检测区域出射。但是,在光投射头中,构造上,不仅出射沿着光轴的光,还存在将从光轴扩散到侧方的光、即所谓的外圈光出射的情况。这样,例如有可能外圈光被光接收头接收,对测定对象物的有无产生误检测。因此,以往以来,已知有通过在光纤的端部配置设有光阑的非球面透镜来减弱外圈光的技术(例如,专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开平7-20351号公报
实用新型内容
本实用新型欲解决的技术问题
但是,即使是上述的以往的构成,由于从光纤等投光部件出射的光也会在非球面透镜内扩散,并被光接收头接收,因此不能充分地减弱外圈光。
在本说明书中,公开了能够抑制从光投射头出射外圈光的技术。
用于解决问题的技术方案
本说明书所公开的光投射头包括:投光部,其输出光;以及光学部件,其在上述投光部的输出方向上配置在该投光部的前方,并具有多个反射面和台阶部,上述多个反射面沿着上述输出方向排列在同轴上,上述各反射面呈越远离上述投光部而开口直径越增大的环状形状,位于前侧的反射面的后端与位于后侧的反射面的前端相比,开口直径小,并经由上述台阶部结合于该位于后侧的反射面的前端。
该光投射头包括光学部件,该光学部件在投光部的输出方向上配置在该投光部的前方,并具有多个反射面和台阶部。该光学部件的多个反射面沿着输出方向排列在同轴上,各反射面呈越远离投光部而开口直径越增大的环状形状。并且,位于前侧的反射面的后端与位于后侧的反射面的前端相比,开口直径小,并经由台阶部结合于该位于后侧的反射面的前端。因此,台阶部具有越远离投光部而开口直径越缩小的环状形状。由此,能够抑制来自投光部从输出方向向侧方扩散地出射、以及在台阶部被反射的光沿着输出方向前进,能够减弱外圈光。
本说明书所公开的光投射头也可以是,上述位于前侧的反射面与上述位于后侧的反射面相比,相对于上述输出方向的倾斜角度小。该光投射头的位于输出方向的前则的反射面与位于后侧的反射面相比,相对于输出方向的倾斜角度小,因此,能够使在各反射部被反射的光成为沿着光轴的光。
本说明书所公开的光投射头也可以是,上述光学部件具有聚光部,该聚光部配置在上述多个反射面和台阶部的前方,并将从上述投光部输出的光向与上述输出方向正交的方向聚光。由于该光投射头的光学部件具有聚光部,因此,通过将从投光部输出的光聚光,能够减弱外圈光。
本说明书所公开的光投射头也可以是,上述光学部件设有保持部,该保持部配置在上述多个反射面和台阶部的后方,并对上述投光部的前端部进行保持。由于该光投射头在光学部件上设有对投光部进行保持的保持部,因此,能够抑制导光部与投光部件的相对位置变化,能够抑制由于相对位置的变化导致产生外圈光。
本说明书所公开的光投射头也可以是,上述光学部件是将从上述投光部输出的光向上述输出方向引导的导光部件,上述多个反射面是上述导光部件的与上述输出方向正交的方向上的侧面。由于该光投射头的光学部件由导光部件构成,且多个反射面是该导光部件的侧面,因此,易于形成具有多个反射面和台阶部的光学部件。
本说明书所公开的光投射头也可以是,所述光投射头包括遮光壳体,该遮光壳体对上述投光部和上述光学部件进行保持,并具有遮光性。由于该光投射头包括具有遮光性的遮光壳体,因此,能够抑制杂散光从投光部以外进入光学部件以及由于该杂散光导致产生外圈光。
在本说明书中,还公开使用了上述的光投射头的光学传感器。本说明书所公开的光学传感器包括:上述的光投射头;光接收头,其接收从上述光投射头出射的光;以及控制部,其基于用上述光接收头接收的光来判断测定对象物的有无。在该光学传感器中,由于从光投射头出射的光的外圈光被减弱,因此,能够高精度地检测测定对象物的有无。
本说明书所公开的光学传感器也可以是,上述光接收头配置在至少在与上述输出方向正交的方向上与上述光投射头偏移的位置,接收从上述光投射头出射并被测定对象物反射的光。根据该光学传感器,在反射型的光学传感器中,能够高精度地检测测定对象物的有无。
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