[实用新型]电子天平内校机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子天平内校机构。

背景技术

以前电子天平在校验时一般都是采用标准砝码在外部对电子天平进行校验，每次校验时都需拿相应的标准砝码来校验，对用户而言比较繁琐，且砝码也易丢失，基于此情况，后续便出现了内部校验机构，即把内校砝码放在电子天平内部来进行校验，这样用户就可以自己来校验天平，而不再需要送实验室或其他校验机构来进行校验。

公布号为“CN102879073A”的中国专利文献记载了一种带内校砝码结构的电子天平，其中通过设置内校砝码、能够沿竖直方向向上顶起所述内校砝码的顶起机构、能够驱动所述顶起机构沿竖直方向升降的顶起驱动装置，同时在传感器的上支架上设置能够沿竖直方向支撑内校砝码的支杆，电子天平使用前需要校正时，顶起驱动装置驱动顶起机构下行，内校砝码降下直至支撑在上支架的支杆上，顶起机构与内校砝码沿竖直方向保持一定的间隙；待校正完成后，由顶起驱动装置驱动顶起机构上行，顶起机构将内校砝码向上顶起使其脱离支杆，内校砝码与支杆沿竖直方向保持一定的间隙，这时即可使用电子天平进行称量。其中的顶起驱动装置包括转轴支架、能够转动地设置在转轴支架上的转轴、能够驱动转轴旋转的电机、转轴上套设凸轮。

实用新型人发现目前具有内校机构的电子天平大多使用电机驱动内校机构，来实现电子天平的校验，电机驱动内校机构的制造加工精度高，工艺控制过程复杂，对传感器的选用要求高，对后续组装工艺和标定要求高，成本高，且占用电子天平很多内部空间进而使电子天平的尺寸变大。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种可以靠人工操作完成内校的电子天平内校机构。

为实现所述目的的电子天平内校机构，其特点是，包括：

具有斜面的水平移动件，设置成在水平方向移动；

包括至少一个内校砝码的砝码组件；

传感器，通过传感器托架来承载砝码组件；

导向组件；以及

上下移动件，与导向组件通过柱销与柱孔的配合能上下移动，具有与所述斜面配合的凸出结构；

其中，内校砝码压在传感器托架，以使传感器受力，从而该内校机构处于内校验状态；水平移动件的移动能使水平移动件的对应的斜面与上下移动件上的凸出结构相接触，进而使所述凸出结构沿着水平移动件的斜面移动，并且上下移动件能移动至砝码组件，把砝码组件带动，进而使砝码组件从传感器托架上脱开，进而使该内校机构处于非内校状态。

所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是导向组件包括底板以及在底板上直立的柱销；传感器安装在该底板上，传感器托架位于传感器上方，水平移动件具有位于传感器第一侧和第二侧的叉臂，两叉臂在一端汇集并连接一推拉部，以便于手工推拉该水平移动件，在两叉臂上分别提供所述斜面；砝码组件包括在传感器第一侧、第二侧分别设置的砝码以及在传感器顶部的砝码，顶部的砝码与两侧的砝码分别连接，顶部的砝码坐落在传感器托架上；上下移动件具有柱孔，在传感器两侧的柱销上分别设置有该上下移动件，上下移动件位于水平移动件上方，位于传感器第一侧、第二侧的内校砝码位于对应的上下移动件上方。

所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是水平移动件的所述斜面由所述水平移动件上的梯形楔块的腰部提供，于所述非内校状态，所述凸出结构稳稳地坐落在该梯形楔块的顶端。

所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是所述水平移动件还具有复位凸块，所述复位凸块提供与水平面呈小于90度夹角的回程斜面，于所述非内校状态切换到所述内校状态的过程中，上下移动件的凸出结构能沿着水平移动件的所述斜面向下滑动的同时，上下移动件的复位结构也能沿着所述回程斜面滑动，以防止上下移动件卡在柱销上。

所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是位于内校砝码具有柱孔，所述柱销穿过内校砝码的柱孔，也能沿着柱销随着上下移动件缓缓下降，以便于平稳地落在传感器托架上。

所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是所述凸出结构为圆柱结构，通过圆柱面与所述斜面滑动配合。

所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是所述柱销的顶部固定有卡帽，以限制内校砝码脱离所述柱销。

所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是传感器托架提供导向柱，砝码组件提供有导向框，导向框和导向柱滑动配合，以使砝码组件能位置准确地坐落在传感器托架上。

所述的电子天平内校机构，其进一步的特点是还包括天平基座，所述底板固定在天平基座上，所述推拉部外露于所述天平基座，所述推拉部向外拉出的状态对应于所述内校状态，所述推拉部向内止动于天平基座的状态对应与所述非内校状态。