[实用新型]颗粒检测设备有效
申请号: | 201420624004.2 | 申请日: | 2014-10-24 |
公开(公告)号: | CN204165975U | 公开(公告)日: | 2015-02-18 |
发明(设计)人: | 管铁;叶海水;张俊健 | 申请(专利权)人: | 中丰田光电科技(珠海)有限公司 |
主分类号: | G01N33/34 | 分类号: | G01N33/34 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 宋鹰武;沈祖锋 |
地址: | 519040 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 颗粒 检测 设备 | ||
1.一种颗粒检测设备,其特征在于,包括调节基座、夹辊组和压力传感器,所述夹辊组包括第一夹辊和第二夹辊,所述第一夹辊和所述第二夹辊平行设置,所述第一夹辊的两端设于所述调节基座上,所述第二夹辊通过所述压力传感器设于所述调节基座上。
2.如权利要求1所述的颗粒检测设备,其特征在于,所述第二夹辊在所述调节基座上的位置可调节。
3.如权利要求1所述的颗粒检测设备,其特征在于,所述第二夹辊的一端通过所述压力传感器设于所述调节基座上,所述第二夹辊的另一端直接设于所述调节基座上。
4.如权利要求3所述的颗粒检测设备,其特征在于,所述调节基座包括基板和两个设于所述基板上的立板,每个所述立板开设有第一调节孔,所述压力传感器设于一个所述第一调节孔上,所述第二夹辊远离所述压力传感器的一端设于另一个所述第一调节孔上。
5.如权利要求1所述的颗粒检测设备,其特征在于,所述压力传感器为两个,所述第二夹辊的两端分别通过一个所述压力传感器设于所述调节基座上。
6.如权利要求5所述的颗粒检测设备,其特征在于,所述调节基座包括基板和两个设于所述基板上的立板,每个所述立板开设有第一调节孔,两个所述压力传感器分别设于一个所述第一调节孔上。
7.如权利要求1所述的颗粒检测设备,其特征在于,所述调节基座包括基板和两个设于所述基板上的立板,每个所述立板开设有第二调节孔,所述第一夹棍的两端分别设于一个所述第二调节孔上,所述第一夹棍在所述立板上的位置可以调节。
8.如权利要求1所述的颗粒检测设备,其特征在于,还包括主控制器,所述压力传感器和所述主控制器连接。
9.如权利要求8所述的颗粒检测设备,其特征在于,还包括报警器,所述报警器和所述主控制器连接。
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