[实用新型]一种LED光源高温长期光通维持率检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种LED光源寿命检测装置，特别是一种LED光源高温长期光通维持率检测装置。

背景技术

LED由于具有体积小、耗电量低、坚固耐用、使用寿命长、安全低电压、低热量、环保等优点，正在冲击着传统照明市场，各个国家也都实施了大量的优惠政策进行大力的推广。然而LED灯具的实际使用寿命，一直是业界所关注的重中之重，也是LED在实际推广中的决定性所在；由于LED灯具种类繁多，加之寿命测试时间周期较长(测试时间至少为6000小时)，如果要对每个型号的LED灯具进行寿命的测试，其成本是相当高的。

为此北美照明工程协会(IESNA)研究并发表了IES LM-80和IES TM-21两份标准，LM-80指出了一种LED光源光通维持率的验证方法(6000-10000小时)，而TM-21则是基于LM-80的测试数据对LED的更长期的寿命进行推算(3万小时乃至更长时间)。

决定LED光衰的决定因素是LED芯片的结温，LM-80测试所用的三个Ts(外壳温度，LED封装光源接触点上的温度)温度点(55℃、85℃、第三个由制造商选择)，基本上可以涵盖LED的实际使用情况，只要LED在实际灯具中的实测Ts值，便可推算灯具的使用的光通维持率。但由于LED被点亮后，温度会急剧升高，从而造成表面和周围空气出现巨大温差，在灯具测试过程中LED环境设定温度需控制在(Ts-5)℃内，而LED的壳温变化控制在(Ts-2)℃，如何既能控制LED周围空气温度，又能控制Ts成为该测试中的技术难点。

现有的测试温度控制多采用如专利公告号CN102590763B和CN203299341U所述的方法，即在试验箱内安装制冷器或散热风扇，将LED点亮所产生的热量随空气排出试验箱，再完全由温度控制系统提供热能使试验箱内部温度控制在测试所需范围内。由于老化测试时间长(通常在6000小时左右)，如果采取主动式散热结构，如制冷器或风扇散热，一旦散热结构在测试过程中停止运转，试验箱内温度将由于LED点亮所产生的热量无法排出，导致Ts急剧升高，烧坏LED光源使测试失败；又由于主动式散热结构需不停转散热，而LED点亮所产生的热量又未能被有效利用，传统试验箱每立方米的设备额度功率需15kw，整个测试过程成本与耗能巨大。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种检测过程更为稳定，且环保节能的LED光源高温长期光通维持率检测装置和方法。

本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案是：

一种LED光源高温长期光通维持率检测装置，其结构包括试验箱、供电控制器、LED温度测试仪、寿命测试仪和温度控制系统；所述试验箱内设有测试位，测试位上安装有散热板，所述LED温度测试仪与测试位连接，所述寿命测试仪通过供电控制器与试验箱连接，所述温度控制系统由设置在试验箱内的环境温度检测装置和加热装置组成；检测过程中，所述试验箱呈密闭状态。通过在检测过程中设置密闭试验箱，通过散热板将LED光源测试时所产生的能量辐射至试验箱内从而控制Ts温度，将主动式散热结构转变为被动式散热结构，利用温度控制系统实时控制试验箱内部温度，排除了因现有主动散热结构停转而造成测试失败的可能性，提高了检测装置的可靠性；并且LED点亮所产生的热量能够被保留在试验箱内，温度控制系统在利用LED光源正常工作的热能基础上进行加热工作，除去了散热系统的运作成本，本装置运行所需功率仅需现有设备的1/10～1/3，有效减少测试成本与耗能。

作为优选，所述散热板上设有均温板。基于均温板的高导热系数能够将LED光源的热量由点迅速扩散成面，可以有效控制Ts温度，再由散热板将热量快速传递到空气中，使环境温度检测装置能够及时反应试验箱内部温度，加热装置及时调整从而保证环境设定温度与Ts控制在变化范围内，提高检测可靠性。

作为优选，所述散热板上设有对流孔或散热片中的一种或两种。对流孔或散热片的设置能使LED光源的热量更快速传递到空气中，使环境温度检测装置能够及时反应试验箱内部温度，加热装置及时调整从而保证环境设定温度与Ts控制在变化范围内，进一步提高检测可靠性。

作为优选，所述测试位均匀分布在试验箱内。测试位的均匀分布能使LED光源辐射至试验箱内的热量更为均匀，既可以使Ts更容易控制，由使试验箱内的温度更为均匀加热更易控制。

作为优选，所述加热装置均匀分布在试验箱内。在测试位均匀分布的前提下均匀分布加热装置使试验箱内的温度加热更易控制。