[实用新型]一种磁卡模块测试设备有效

专利信息
申请号: 201420663895.2 申请日: 2014-11-07
公开(公告)号: CN204479663U 公开(公告)日: 2015-07-15
发明(设计)人: 韦敏荣;舒雄;杨再林 申请(专利权)人: 深圳安博电子有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁卡 模块 测试 设备
【权利要求书】:

1.一种磁卡模块测试设备,其特征在于,所述设备包括:

主控电路;以及

分别与主控电路连接的显示模块、电机控制电路、供电电路、速度传感器和位置传感器。

2.如权利要求1所述的磁卡模块测试设备,其特征在于,所述主控电路包括主控芯片,所述主控芯片为Atmega 16芯片。

3.如权利要求1或2所述的磁卡模块测试设备,其特征在于,所述主控电路包括:

与主控芯片连接的程序下载通信接口,所述程序下载通信接口为ISP下载线接口。

4.如权利要求1所述的磁卡模块测试设备,其特征在于,所述主控电路包括:

分别与主控芯片连接的复位按钮、开始按钮、停止按钮、慢刷按钮以及快刷按钮。

5.如权利要求1所述的磁卡模块测试设备,其特征在于,所述显示模块包括:

与主控电路的主控芯片连接的集成电路MAX7219;

与集成电路MAX7219连接的多个七段数码管。

6.如权利要求5所述的磁卡模块测试设备,其特征在于,所述集成电路MAX7219的第18管脚ISET端通过可变电阻连接到第19管脚V+端。

7.如权利要求1或2所述的磁卡模块测试设备,其特征在于,所述位置传感器包括电机原点传感器、正限位传感器以及负限位传感器;

所述速度传感器、电机原点传感器、正限位传感器、负限位传感器通过光耦合集成电路PC817与主控电路的Atmega 16芯片连接。

8.如权利要求1所述的磁卡模块测试设备,其特征在于,所述电机控制电 路包括集成电路THB6064;

所述集成电路THB6064与主控电路的主控芯片之间通过TTL电平接口连接。

9.如权利要求8所述的磁卡模块测试设备,其特征在于,所述电机控制电路还包括两相混合式步进电机;

所述两相混合式步进电机与所述集成电路THB6064连接。

10.如权利要求1所述的磁卡模块测试设备,其特征在于,所述供电电路包括变压器;

与所述变压器连接的桥式整流电路;

以及并联在桥式整流电路的电流输出端和输入端之间的第一稳压电源和第二稳压电源;

所述第一稳压电源的输出端接主控电路和显示模块;

所述第二稳压电源的输出端接电机控制电路、速度传感器、位置传感器。

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