[实用新型]用于分析仪器的粉末自动加样装置有效

专利信息
申请号: 201420669829.6 申请日: 2014-11-11
公开(公告)号: CN204255963U 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 杨海生 申请(专利权)人: 长沙瑞翔科技有限公司
主分类号: G01N35/10 分类号: G01N35/10
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明
地址: 410205 湖南省长沙*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 用于 分析仪器 粉末 自动 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及工业分析设备领域,特别地,涉及一种用于分析仪器的粉末自动加样装置。

背景技术

在自动分析仪器的使用过程中,经常需要将试样取量放在转盘上的坩埚里面进行灼烧,每个坩埚中需要加一定重量试样,在做不同分析时的试样需要加不同重量的试样,并且有可能所加的试样种类完全不同。

而目前我们的加样方式都是采用人工的方式手动加样,加完一个样,再加下一个样,手动添加的样重很难控制,重量差别很大;并且试样的添加种类很容易出现差错。因此,现有手工加样方式主要存在以下几个缺点:1、容易加错试样,有可能把A试样加在了要放B试样的坩埚中;2、多次添加和取出操作后才能使样重合格,而这样操作增加了试样污染的概率,且易导致试样重量不准确;3、多次添加取出操作延长了操作时间,增加了操作人员的劳动强度,对操作员提出了较高的技术要求;4、需要手动将样品搅匀。

实用新型内容

本实用新型目的在于提供一种用于分析仪器的粉末自动加样装置,以解决现有手工加样方式容易加错试样、试样重量控制难度大、需要手动搅拌样品等的技术问题。

为实现上述目的,本实用新型采用的技术方案如下:

一种用于分析仪器的粉末自动加样装置,包括用于储存试样并提供试样的放样机构以及用于从放样机构接取试样并称取试样的称样机构,放样机构底部开设有用于掉落试样的漏样孔,称样机构设有开口朝上布置的称样器皿,漏样孔与称样器皿的开口上下对应布置;放样机构设有用于控制试样掉落量的试样掉落控制机构,试样掉落控制机构通过开启或关闭漏样孔以控制试样从漏样孔掉落的掉落量。

进一步地,放样机构包括支撑台以及用于储存试样并提供试样的样瓶,支撑台上设有用于放置样瓶的放置位,样瓶的瓶口朝下扣合在放置位上,瓶口内设有用于密封瓶口的密封垫,密封垫和封盖瓶口的盖体叠合于支撑台的上表面;漏样孔包括开设于支撑台上的第一开孔、开设于密封垫上的第二开孔以及开设于盖体上的第三开孔,第一开孔、第二开孔和第三开孔对应布置。

进一步地,试样掉落控制机构包括转动轴承、设于样瓶内的搅拌叶片、用于驱动搅拌叶片转动的驱动装置以及贴合于密封垫上表面的挡板;搅拌叶片可转动的套设于转动轴承上,转动轴承沿竖向固定在密封垫上;挡板固接在搅拌叶片的底部并随搅拌叶片转动,挡板上设有第四开孔,第二开孔处于第四开孔的转动轨迹上。

进一步地,第二开孔、第三开孔、第四开孔中的至少两个的孔型相同以及孔径相同。

进一步地,第一开孔、第二开孔、第三开孔和第四开孔的孔径相同,第一开孔、第二开孔、第三开孔、第四开孔中的至少一个采用三角孔、圆孔、方孔、菱形孔、十字孔、长圆孔或者长方孔。

进一步地,试样掉落控制机构包括固接在盖体内表面上固定轴、设于样瓶内的搅拌叶片以及用于驱动搅拌叶片转动的驱动装置;密封垫套设于固定轴上并可绕固定轴进行水平转动,搅拌叶片沿竖向固接在密封垫上;第三开孔处于第二开孔的运动轨迹上。

进一步地,支撑台上的放置位连有用于传送样瓶的传送机构,传送机构的传送轨迹为直线轨迹和/或曲线轨迹。

进一步地,称样机构包括用于称样的称重天平以及用于输送称样器皿的输送机构;称重天平上设有用于停放称样器皿的停放位,输送机构上用于输出载重的称样器皿的输出端以及用于输入空置的称样器皿的输入端分别与停放位相连。

进一步地,驱动装置采用驱动电机,驱动电机的输出端连接并驱动搅拌叶片转动;或者驱动装置包括至少一块设于样瓶外的驱动磁铁以及至少一块设于搅拌叶片上的传动磁铁,驱动磁铁与传动磁铁之间的同性磁极相对布置。

进一步地,驱动磁铁设置有多块,多块驱动磁铁沿样瓶的周向环绕于样瓶外并且等间距布置。

进一步地,驱动磁铁采用通过电流控制电磁力大小的电磁铁。

根据本实用新型的另一方面,还提供了一种分析仪器,其包括上述用于分析仪器的粉末自动加样装置。

本实用新型具有以下有益效果:

本实用新型用于分析仪器的粉末自动加样装置,通过放样机构的自动放样以及称样机构的自动接样以及自动称样,从而实现分析仪器所需试样的自动称取。通过在放样机构底部开设漏样孔以实现试样定量掉落到称样器皿中,每一次从漏样孔掉落的试样均为定量的一份试样通过称样机构及时称取,通过控制掉落的试样份数从而实现称样器皿获取试样的精确控制。通过试样掉落控制机构开启或关闭漏样孔,从而实现试样掉落的精确控制。

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