[实用新型]垂直测量装置及百分表装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种机械工程领域，尤其是涉及一种垂直测量装置及百分表装置。

背景技术

随着社会的发展，技术不断的提高，设备制造业对加工部件的要求也越来越高，加工部件的垂直精度直接影响到其所制成的成品如显微镜支架等整机的使用精度。

在加工部件20’的制造中，通常需要用测量装置对其进行测量。如图1所示，当加工部件20’为圆柱状结构时，测量加工部件20’自身的垂直度通常需要用到百分表10’，百分表10’沿着垂直度测量座上下运作，以测量加工部件20’的倾斜度，因为百分表10’一端的探测头11’与加工部件20’表面采用的点面接触，在百分表10’从垂直度测量座由上往下缓慢运动中，探测头11’会随着加工部件20’表面的弧面而移动，进而改变百分表10’的读数值；当圆柱形加工部件20’朝正对着百分表10’方向倾斜，可以通过百分表10’的读数值来计算出加工部件20’的倾斜度；但是当圆柱形加工部件20’朝向其他方向倾斜时，随着探测头11’从上往下运动，探测头11’会从加工部件20’中间部位即弧面最高点移动到弧面的其他位置点，如此则很难根据百分表10’的读数值来判断加工部件20’的倾斜度。

实用新型内容

基于此，有必要针对现有技术的不足，提供一种使用方便、操作简单且测量精度高的垂直测量装置及百分表装置。

为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：一种垂直测量装置，其包括垂直度测量座、百分表及滑杆，所述百分表卡持在垂直度测量座上；所述百分表包括探测头，所述滑杆固定设置在所述探测头一端并与所述探测头垂直设置。

在其中一个实施例中，所述垂直度测量座上开设有导槽，所述百分表卡持在所述导槽内并沿所述导槽来回上下滑动。

在其中一个实施例中，所述百分表还包括表体及卡持凸柱，所述探测头设置于所述表体顶端，所述卡持凸柱由所述表体底端延伸而出，所述卡持凸柱卡持于所述导槽内。

本实用新型所采用的技术方案是：一种百分表装置，其包括探测头、表体及卡持凸柱，所述探测头设置于所述表体顶端，所述卡持凸柱由所述表体底端延伸而出；所述滑杆固定设置在所述探测头一端，并与所述探测头垂直设置。

综上所述，本实用新型垂直测量装置及百分表装置通过在百分表的探测头上固定设置滑杆，并且滑杆与探测头的垂直设置，在对加工部件进行测量时，由于滑杆的限位作用，使得探测头不会随着百分表的移动而偏向抵接到加工部件的侧部表面，达到测量加工部件倾斜度的目的，使用方便，操作简单且量测精度高。

附图说明

图1为现有垂直测量装置的结构示意图；

图2为本实用新型垂直测量装置的结构示意图；

图3为图2所示本实用新型垂直测量装置的局部放大图。

具体实施方式

为能进一步了解本实用新型的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述。

如图2和图3所示，本实用新型垂直测量装置用于测量显微镜支架等精密产品的倾斜度，所述垂直测量装置包括垂直度测量座10、百分表20及滑杆30，所述百分表20卡持在垂直度测量座10上并上下滑动；所述垂直度测量座10上开设有导槽11，所述百分表20卡持在所述导槽11内并沿所述导槽11来回上下缓慢滑动；所述百分表20包括探测头21、表体22及卡持凸柱23，所述探测头21设置于所述表体22顶端，所述卡持凸柱23由所述表体22底端延伸而出，所述卡持凸柱23卡持于所述导槽11内；所述滑杆30固定设置在所述探测头21一端，并与所述探测头21垂直设置。

本实用新型还提供了一种百分表装置，包括上述一种垂直测量装置的百分表20及滑杆30。

上述一种百分表装置的其他技术特征与上述一种垂直测量装置相同，此处不予赘述。

实际使用时，将垂直度测量座10放置在待测加工部件40之前，然后调节待测加工部件40与垂直度测量座10之间的距离，以保证滑杆30与加工部件40顶端表面接触时，百分表20的读数值为零点位置值；此时，百分表20会从上至下沿导槽11缓慢移动，滑杆30在百分表20的带动下也缓慢移动，由于滑杆30的限位作用，探测头21的移动不会偏离至加工部件40的侧部，使得可以通过百分表20的读数值来测出加工部件40朝向垂直度测量座10的倾斜度。