[实用新型]一种带可控硅检测的电机驱动器电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及电机驱动器领域，特别是一种提高保护功能的电机驱动器电路。

背景技术

由于受半导体使用寿命和环境的影响，驱动器在长期使用过程中，可控硅有可能损坏导致不能导通，为了避免故障的扩大化，如烧坏缓冲电阻等。其伺服电机的驱动器，其电路，一般都是由交流电经过整流后，通过缓冲路和可控硅电路进行连接实现控制保护，此电路可控硅控制电路异常时，电压经缓冲电路向负载直接供电，负载输出大电流将缓冲电路直接烧毁，甚至发生起火等严重事故，有些也设有检测电路，但电路结构复杂，电子器件多，操作成本高，实用性不强。

发明内容

为解决上述问题，有效确保电机驱动器电路使用的用安全性，实现其电路的有效控制性、使用连接方便性及提高功能性，本实新型提供一种带可控硅检测的电机驱动器电路，包括缓冲电路、可控硅电路和CPU，所述可控硅电路经缓冲电路与CPU连接，其特征在于：所述缓冲电路与CPU之间还设有可控硅检测电路，所述可控硅检测电路由电压P1～P2、电阻R1～R4、极性保护二极管D1～D4、滤波电容C1以及隔离光耦PC1组成，所述电压P2经电阻R3与极性保护二极管D2、D4连接，所述电压P1经电阻R1和R2与极性保护二极管D1、D3连接，所述极性保护二极管D1、D2、D3、D4经电阻R4和滤波电容C1与隔离光耦PC1连接，所述隔离光耦PC1输出电平信号与所述CPU连接。

所述的电压P1、P2为60～300VDC。

所述的隔离光耦PC1输出信号端还设有电阻R5，所述电阻R5与滤波电容C2连接。

采用上述结构后，安装使用时当可控硅电路出现异常时，电流直接流过缓冲电路，电路两端产生压降，可控硅检测电路接通，隔离光耦PC1起作用发出高电平信号JCF到CPU，CPU检测到此高电平信号立即关闭输出负载，同时输出报警信号，进而保护缓冲电路等功率器件，避免故障的扩大化。本实用新型电路结构简单，电子器件少，且均选用通用型器件，采用光耦隔离，输入与输出端强弱电完全隔离，无触点，抗干扰能力强。

本实用新型简单、实用，使用安全性强，提高本控制电路的有效控制性、使用性方便性和提高功能性。

附图说明

图1是本实用新型控制电路结构示意图。

图中标示为：

1缓冲电路、2可控硅电路、3CPU、4可控硅检测电路、P1电压、P2电压、R1电阻、R2电阻、R3电阻、R4电阻、D1极性保护二极管、D2极性保护二极管、D3极性保护二极管、D4极性保护二极管、PC隔离光耦、R5电阻、C1滤波电容、C2滤波电容。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型名称的具体实施例作进一步详述，但不构成对本实用新型的任何限制。

如图1所示，一种带可控硅检测的电机驱动器电路，包括缓冲电路1、可控硅电路2和CPU3，所述可控硅电路2经缓冲电路1与CPU3连接，其特征在于：所述缓冲电路1与CPU3之间还设有可控硅检测电路4，所述可控硅检测电路4由电压P1～P2、电阻R1～R4、极性保护二极管D1～D4、滤波电容C1以及隔离光耦PC1组成，所述电压P2经电阻R3与极性保护二极管D2、D4连接，所述电压P1经电阻R1和R2与极性保护二极管D1、D3连接，所述极性保护二极管D1、D2、D3、D4经电阻R4和滤波电容C1与隔离光耦PC1连接，所述隔离光耦PC1输出电平信号与所述CPU3连接。

所述的电压P1、P2为60～300VDC。

所述的隔离光耦PC1输出信号端还设有电阻R5与滤波电容C2连接，实现确保JCF在整机正常时为低电平及提高电路的抗扰性能。

安装使用时当可控硅电路2出现异常时，电流直接流过缓冲电路1，电路两端产生压降，可控硅检测电路4接通，隔离光耦PC1起作用发出高电平信号JCF到CPU，CPU检测到此高电平信号立即关闭输出负载，同时输出报警信号，进而保护缓冲电路等功率器件，避免故障的扩大化。

可控硅检测电路4接通时，P1与P2两端输入接通电压经电阻R1、R2、极性保护二极管D1、D2、D3、D4、电阻R3、R4限流降压，再通过隔离光耦PC1耦合传输，输出一路高电平信号JCF到CPU的I/O端口，CPU检测到此高电平信号立即关闭输出负载，同时输出报警信号。

使用时，限流电阻R1～R3，防止隔离光耦PC1因过流损坏；极性保护二极管D1～D4，防止电压端P1和P2方向接反而损坏隔离光耦PC1；隔离光耦PC1，安规隔离和信号传输；电阻R5，确保JCF在整机正常时为低电平；滤波电容C1、C2提高电路的抗扰性能。

本实用新型电路结构简单，电子器件少，且均选用通用型器件，采用光耦隔离，输入与输出端强弱电完全隔离，无触点，抗干扰能力强。本实用新型简单、实用，使用安全性强，提高本控制电路的有效控制性、使用性方便性和提高功能性。