[实用新型]一种复相关高精度数字测频电路有效
申请号: | 201420694704.9 | 申请日: | 2014-11-18 |
公开(公告)号: | CN204269728U | 公开(公告)日: | 2015-04-15 |
发明(设计)人: | 谢宁川;汪泽;张敏 | 申请(专利权)人: | 成都九洲迪飞科技有限责任公司 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02 |
代理公司: | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人: | 袁英 |
地址: | 610000 四川省成都市高新区天府大道*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 相关 高精度 数字 电路 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种频率测量电路,特别是涉及一种复相关高精度数字测频电路。
背景技术
随着现代科技的发展,频率测量的意义已越来越重要。例如,在卫星发射、飞行导航、测量定位、天文观测、通信广播、交通运输、科学研究、生产生活等各个方面,都需要对频率进行测量。工程上测量频率和周期的方法一般可分为三种:无源测频法、有源比较法及电子计数法。无源测频法又可分为谐振法和电桥法,常用于频率粗测,精度在1%左右。有源比较法可分为拍频法和差频法,前者是利用两个信号线性叠加,产生拍频现象,通过检测零差后现象测频,常用于低频测量,误差在零点几赫;后者是利用两个信号非线性叠加,产生差频现象,通过检测零差现象测频,常用于高频测量,误差为±20Hz左右。以上方法测量精度低,抗干扰能力差,而电子计数法测量精度高,抗干扰能力强。
国内常见的数字测频有FFT法,过零检测法等,FFT是离散傅立叶变换的快速算法,可以将一个信号变换到频域,采样得到N个采样点的数字信号,经过FFT之后,就可以得到N个点的FFT结果。FFT频域测量速度快,但其精度受制于采样点数量,点数过大FFT计算耗费更多的FPGA资源和时间,目前的FPGA一般采样点数量最高为65536,当采样时钟为100MHz时,65536点FFT的频率测量精度小于1.5KHz,不适用于长度变化信号的频率测量。过零检测法需要加入辅助滤波器。两种方法在使用时都受到限制。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种复相关高精度数字测频电路,具有运算速度快、测频精度高等优点,且适用任意长度的信号测频,抗干扰能力强。
本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:一种复相关高精度数字测频电路,它包括模数转换电路、混频电路A、滤波电路A、混频电路B、滤波电路B和数字处理电路,被测信号与模数转换电路的输入连接,模数转换电路输出两路数字信号,其中,模数转换电路的一路输出与混频电路A连接,混频电路A的输出与滤波电路A连接,模数转换电路的另一路输出与混频电路B连接,混频电路B的输出与滤波电路B连接,滤波电路A和滤波电路B的输出与数字处理电路连接,数字处理电路利用滤波电路A和滤波电路B输出的被测信号的实部和虚部分量,计算被测信号的频率。
所述滤波电路A和滤波电路B为低通滤波器。
所述的混频电路A和混频电路B的本振信号即本振信号A和本振信号B的相位相差90°。
所述模数转换电路主要由AD9265芯片构成。
本实用新型具有运算量小、测频精度较高等优点,且适用任意长度的信号测频,抗干扰能力强。
附图说明
图1为本实用新型原理框图。
具体实施方式
下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案,但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。
如图1所示,一种复相关高精度数字测频电路,它包括模数转换电路、混频电路A、滤波电路A、混频电路B、滤波电路B和数字处理电路,被测信号与模数转换电路的输入连接,模数转换电路输出两路数字信号,其中,模数转换电路的一路输出与混频电路A连接,混频电路A的输出与滤波电路A连接,模数转换电路的另一路输出与混频电路B连接,混频电路B的输出与滤波电路B连接,滤波电路A和滤波电路B的输出与数字处理电路连接,数字处理电路利用滤波电路A和滤波电路B输出的被测信号的实部和虚部分量,计算被测信号的频率。
所述滤波电路A和滤波电路B为低通滤波器。
所述的混频电路A和混频电路B的本振信号即本振信号A和本振信号B的相位相差90°。
所述模数转换电路主要由AD9265芯片构成。
采用复相关测频的基本原理如下:假设脉冲信号经模数转换电路后的数字信号写成复信号的形式为X(n)=Rn+j·In,其中Rn为复信号实部,In为复信号虚部,所述混频电路A的本振信号为cos(2πf0t),混频电路B的本振信号为sin(2πf0t),则脉冲信号的平均频率为
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都九洲迪飞科技有限责任公司,未经成都九洲迪飞科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420694704.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种氧化铟锡膜手持式探头测试装置
- 下一篇:多输入阻抗工作电压测试装置