[实用新型]基于机器视觉的LCD屏的多工位转盘点屏系统有效

专利信息
申请号: 201420702559.4 申请日: 2014-11-20
公开(公告)号: CN204178077U 公开(公告)日: 2015-02-25
发明(设计)人: 彭骞;侯浪;张佳;张力;陈凯;沈亚非 申请(专利权)人: 武汉精测电子技术股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人: 黄行军;李满
地址: 430070 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 基于 机器 视觉 lcd 多工位 转盘 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及自动光学检测技术领域,具体地指一种基于机器视觉的LCD屏的多工位转盘点屏系统。

背景技术

目前TFT LCD面板是显示设备中主流的器件,在人们的日常生活中都有广泛的应用,是目前唯一亮度,对比度,功耗,寿命,体检和重量等综合性能上全面赶上和超过CRT的显示器件,随着液晶显示屏市场的升温,人们越来越关注液晶显示屏行业,为了取代传统的人工检测的方法,研究人员开始导入CCD(工业相机)检测技术,设计AOI(Automatic Optic Inspection)系统取代人眼检测,但是由于现有的检测系统没有多工位转盘结构,检测时只有一个工位,检测完一个LCD屏后才能准备下一个LCD屏的检测,不能与产线结合进行流水线化检测,检测效率较低。

实用新型内容

本实用新型的目的就是要提供一种基于机器视觉的LCD屏的多工位转盘点屏系统,该检测机台能大幅提高LCD屏的检测效率。

为实现此目的,本实用新型所设计的基于机器视觉的LCD屏的多工位转盘点屏系统,它包括机台底座、由正面板、背面板、顶板和两个侧板组成的暗室、安装在机台底座顶部的多工位转盘系统、安装在多工位转盘系统上并能向待测LCD屏输送测试信号的PG(Pattern Generator,图形讯号发生器)自动点屏系统,其中,所述机台底座的顶部与暗室的底部固定连接,位于所述暗室正面板外侧的机台底座为操作台,所述多工位转盘系统包括转盘、沿周向均匀安装在转盘顶部的多个用于安装待测LCD屏的LCD屏治具、设置在转盘底部能驱动转盘分度转动的旋转定位装置,所述转盘的一半位于暗室内,转盘另一半位于暗室外,所述位于暗室内的转盘为测试区,位于暗室外的转盘为测试等候区。

所述PG自动点屏系统包括图形讯号发生器、气电滑环、电源、电脑、与LCD屏治具个数对应的多个信号转板,上述图形讯号发生器和多个信号转板均与转盘固定连接,所述每个信号转板的第一通信端通过对应的LCD屏治具连接待测LCD屏的通信端,每个信号转板的第二通信端均接入图形讯号发生器的第一通信端,所述图形讯号发生器的电源端通过气电滑环连接电源,图形讯号发生器的第二通信端通过气电滑环接入电脑,所述气电滑环的上部分能随转盘转动,气电滑环的下部与机台底座固定。

所述多工位转盘系统的旋转定位装置包括设置在转盘底部的马达和减速器以及分割器,所述马达的输出轴通过减速器连接分割器的输入端,分割器的输出端带动转盘分度转动。

本实用新型的有益效果:

本实用新型提供的上述多工位转盘系统可以在一个LCD屏进行检测时,让其它的LCD屏处于转盘的等待工位上,这样能显著提高批量LCD屏检测的效率,并且与其配合的PG自动点屏系统使本实用新型的自动化水平明显提高。另外,本实用新型提供的PG自动点屏系统采取气电滑环的通信方式,保证了LCD屏在线检测时的通信过程稳定可靠。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图;

图2为本实用新型中多工位转盘系统的结构示意图;

图3为本实用新型中多工位转盘系统上安装PG自动点屏系统后的结构框图。

其中,1—机台底座、2—暗室、2.1—开口、3—多工位转盘系统、3.1—转盘、3.2—LCD屏治具、3.3—马达、3.4—减速器、3.5—分割器、4—待测LCD屏、5—PG自动点屏系统、5.1—信号转板、5.2—图形讯号发生器、5.3—气电滑环、5.4—电源、5.5—电脑。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明:

如图1~3所示的基于机器视觉的LCD屏的多工位转盘点屏系统,它包括机台底座1、由正面板、背面板、顶板和两个侧板组成的暗室2、安装在机台底座1顶部的多工位转盘系统3、安装在多工位转盘系统3上并能向待测LCD屏4输送测试信号的PG自动点屏系统5,其中,所述机台底座1的顶部与暗室2的底部固定连接,位于所述暗室2正面板外侧的机台底座1为操作台,所述多工位转盘系统3包括转盘3.1、沿周向均匀安装在转盘3.1顶部的多个用于安装待测LCD屏4的LCD屏治具3.2、设置在转盘3.1底部能驱动转盘分度转动的旋转定位装置,所述转盘3.1的一半位于暗室2内,转盘3.1另一半位于暗室2外,所述位于暗室2内的转盘3.1为测试区,位于暗室2外的转盘3.1为测试等候区。

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