[实用新型]在线光谱测量装置及透明介质膜层均匀性在线测量装置有效

专利信息
申请号: 201420703553.9 申请日: 2014-11-20
公开(公告)号: CN204346906U 公开(公告)日: 2015-05-20
发明(设计)人: 余刚;汪洪;王永斌;杨中周 申请(专利权)人: 中国建筑材料科学研究总院;北京航玻新材料技术有限公司
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G01N21/41;G01B11/06
代理公司: 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 代理人: 王伟锋;刘铁生
地址: 100024*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 在线 光谱 测量 装置 透明 介质 均匀
【权利要求书】:

1.一种在线光谱测量装置,其特征在于,包括支架,所述支架上设有导轨,所述导轨上设有测量探头,所述导轨一侧的支架上设有第一位置传感器,另一侧的支架上设有第二位置传感器,当第一位置传感器和第二位置传感器同时检测到被测镀膜样品时,所述测量探头在被测镀膜样品上方沿导轨步进运动逐点扫描测试,用于测试被测镀膜样品的各点膜面反射光谱。

2.根据权利要求1所述的一种在线光谱测量装置,其特征在于,所述导轨下方设有多个输送辊,所述多个输送辊用于输送放置在其上的被测镀膜样品。

3.一种透明介质膜层均匀性在线测量装置,其特征在于,包括权利要求1或2所述的在线光谱测量装置;还包括:

光学性能分析模块:用于对各点膜面反射光谱进行光学性能分析,计算得到平均膜面反射光谱和各点膜面反射颜色,根据各点膜面反射颜色得到膜面反射颜色范围;

折射率、厚度分析模块:用于根据平均膜面反射光谱建立柯西光学模型,利用遗传算法得到膜层折射率,通过平均膜面反射光谱获得膜层平均厚度;

均匀性分析模块:用于对膜面进行均匀性分析,根据膜层折射率和膜层平均厚度获得厚度与颜色线性关系,得到膜层厚度均匀性分布结果。

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