[实用新型]一种ICP刻蚀机的圆形托盘有效

专利信息
申请号: 201420719538.3 申请日: 2014-11-27
公开(公告)号: CN204204818U 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: 何玉建;梁伏波;江川;詹顺华;丁亚祥;裘小强 申请(专利权)人: 晶能光电(江西)有限公司
主分类号: H01L21/673 分类号: H01L21/673
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 330096 江西省*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 icp 刻蚀 圆形 托盘
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种ICP刻蚀机,尤其涉及一种ICP刻蚀机的圆形托盘。

背景技术

所谓刻蚀,实际上狭义理解就是光刻腐蚀,先通过光刻将光刻胶进行光刻曝光处理,然后通过其它方式实现腐蚀处理掉所需除去的部分。随着微制造工艺的发展,广义上来讲,刻蚀成了通过溶液、反应离子或其它机械方式来剥离、去除材料的一种统称,成为微加工制造的一种普适叫法。刻蚀最简单最常用分类是干法刻蚀和湿法刻蚀。干法刻蚀种类很多,包括光挥发、气相腐蚀、等离子体腐蚀等。其优点是:各向异性好,选择比高,可控性、灵活性、重复性好,易实现自动化,无化学废液,处理过程未引入污染,洁净度高。缺点是:成本高,设备复杂。干法刻蚀主要形式有纯化学过程(如屏蔽式,下游式,桶式),纯物理过程(如离子铣),物理化学过程,常用的有反应离子刻蚀 RIE,离子束辅助自由基刻蚀 ICP 等。

与其它刻蚀技术相比,ICP 刻蚀技术结构简单、性价比高、装置的环径比更大、装置更小型化且操作简单。同时 ICP 源具有至少在直径 20cm 范围内的均匀性,可独立控制离子密度和离子能量,已成为目前较为理想的等离子体源。目前ICP 刻蚀技术广泛应用于微电子、LED 及光伏领域。

ICP刻蚀机主要由腔体、下电极和圆形托盘组成。现有的圆形托盘如图1所示。用于放置LED晶圆片的容置槽2呈环形排列在圆形托盘1上,容置槽个数共有27个。

实用新型内容

本实用新型解决的问题在于提供一种ICP刻蚀机的圆形托盘,在托盘直径大小不变的情况下增加用于放置LED晶圆片的容置槽。

为解决上述技术问题,本实用新型提出一种ICP刻蚀机的圆形托盘,其特征在于圆形托盘表面排列若干用于放置LED晶圆片的容置槽,所述容置槽直径相同,并且每个容置槽周围都有六个容置槽与其相切,呈最密堆积排列。

本实用新型的有益效果:

在托盘大小不变的情况下通过增加容置槽,增加了刻蚀LED晶圆片的数量,提高了生产效率。

附图说明

图1是现有技术的示意图。

图2是本实用新型的示意图。

图中标识说明:

圆形托盘1,容置槽2。

具体实施方式

实施例

本实施例的ICP刻蚀机的圆形托盘,见图2,其特征在于圆形托盘表面排列若干用于放置LED晶圆片的容置槽,所述容置槽直径相同,并且每个容置槽周围都有六个容置槽与其相切,呈最密堆积排列。容置槽从圆形托盘中心开始由内向外开始排列。每个容置槽周围都有六个容置槽与其相切,直至排满整个圆形托盘。容置槽个数为31个。

以上所述,仅是本实用新型的实施例而已,并非对本实用新型做任何形式上的限制,本领域技术人员利用上述揭示的技术内容做出些许简单修改、等同变化或修饰,均落在本实用新型的保护范围内。

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