[实用新型]一种ICP刻蚀机的圆形托盘有效
申请号: | 201420719538.3 | 申请日: | 2014-11-27 |
公开(公告)号: | CN204204818U | 公开(公告)日: | 2015-03-11 |
发明(设计)人: | 何玉建;梁伏波;江川;詹顺华;丁亚祥;裘小强 | 申请(专利权)人: | 晶能光电(江西)有限公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 330096 江西省*** | 国省代码: | 江西;36 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 icp 刻蚀 圆形 托盘 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种ICP刻蚀机,尤其涉及一种ICP刻蚀机的圆形托盘。
背景技术
所谓刻蚀,实际上狭义理解就是光刻腐蚀,先通过光刻将光刻胶进行光刻曝光处理,然后通过其它方式实现腐蚀处理掉所需除去的部分。随着微制造工艺的发展,广义上来讲,刻蚀成了通过溶液、反应离子或其它机械方式来剥离、去除材料的一种统称,成为微加工制造的一种普适叫法。刻蚀最简单最常用分类是干法刻蚀和湿法刻蚀。干法刻蚀种类很多,包括光挥发、气相腐蚀、等离子体腐蚀等。其优点是:各向异性好,选择比高,可控性、灵活性、重复性好,易实现自动化,无化学废液,处理过程未引入污染,洁净度高。缺点是:成本高,设备复杂。干法刻蚀主要形式有纯化学过程(如屏蔽式,下游式,桶式),纯物理过程(如离子铣),物理化学过程,常用的有反应离子刻蚀 RIE,离子束辅助自由基刻蚀 ICP 等。
与其它刻蚀技术相比,ICP 刻蚀技术结构简单、性价比高、装置的环径比更大、装置更小型化且操作简单。同时 ICP 源具有至少在直径 20cm 范围内的均匀性,可独立控制离子密度和离子能量,已成为目前较为理想的等离子体源。目前ICP 刻蚀技术广泛应用于微电子、LED 及光伏领域。
ICP刻蚀机主要由腔体、下电极和圆形托盘组成。现有的圆形托盘如图1所示。用于放置LED晶圆片的容置槽2呈环形排列在圆形托盘1上,容置槽个数共有27个。
实用新型内容
本实用新型解决的问题在于提供一种ICP刻蚀机的圆形托盘,在托盘直径大小不变的情况下增加用于放置LED晶圆片的容置槽。
为解决上述技术问题,本实用新型提出一种ICP刻蚀机的圆形托盘,其特征在于圆形托盘表面排列若干用于放置LED晶圆片的容置槽,所述容置槽直径相同,并且每个容置槽周围都有六个容置槽与其相切,呈最密堆积排列。
本实用新型的有益效果:
在托盘大小不变的情况下通过增加容置槽,增加了刻蚀LED晶圆片的数量,提高了生产效率。
附图说明
图1是现有技术的示意图。
图2是本实用新型的示意图。
图中标识说明:
圆形托盘1,容置槽2。
具体实施方式
实施例
本实施例的ICP刻蚀机的圆形托盘,见图2,其特征在于圆形托盘表面排列若干用于放置LED晶圆片的容置槽,所述容置槽直径相同,并且每个容置槽周围都有六个容置槽与其相切,呈最密堆积排列。容置槽从圆形托盘中心开始由内向外开始排列。每个容置槽周围都有六个容置槽与其相切,直至排满整个圆形托盘。容置槽个数为31个。
以上所述,仅是本实用新型的实施例而已,并非对本实用新型做任何形式上的限制,本领域技术人员利用上述揭示的技术内容做出些许简单修改、等同变化或修饰,均落在本实用新型的保护范围内。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶能光电(江西)有限公司,未经晶能光电(江西)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420719538.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种高效太阳能光伏板
- 下一篇:太阳能电池片分选承载装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造