[实用新型]一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源有效

专利信息
申请号: 201420743309.5 申请日: 2014-12-03
公开(公告)号: CN204462031U 公开(公告)日: 2015-07-08
发明(设计)人: 王义文;屈冠彤;付鹏强;廖益龙;刘献礼;林长友;梅恒;刘勇刚 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 光栅 表面 缺陷 检测 led 光源
【权利要求书】:

1.一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源,其特征在于:所述的光源基座(1)外包裹有围片(7),所述的光源基座(1)侧壁的半圆周内设有灯珠导套安装孔(9),所述的灯珠导套安装孔(9)内嵌有灯珠导套(5),所述的灯珠导套(5)与灯珠滑套(4)相衔接,所述的灯珠滑套(4)固定有LED灯珠(3)。

2.根据权利要求1所述的一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源,其特征在于:所述的光源基座(1)顶面与光源盖板(2)连接,所述的光源盖板(2)开有光路通道(10)和夹具安装通孔(8),所述的光源盖板(2)外嵌有磨砂玻璃(6)。

3.根据权利要求1或2所述的一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源,其特征在于:所述的光源基座(1)外安装有开关电源(11),所述的开关电源(11)点连接所述的LED灯珠(3)。

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