[实用新型]准直器及具有该准直器的探测装置和扫描设备有效
申请号: | 201420743868.6 | 申请日: | 2014-12-02 |
公开(公告)号: | CN204500744U | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 李延召 | 申请(专利权)人: | 武汉知微科技有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G21K1/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 430073 湖北省武汉市东湖新技术开*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 准直器 具有 探测 装置 扫描 设备 | ||
1.一种准直器,包括若干准直孔,其特征在于:所述准直器还包括依次分布于所述准直器的若干个工作区,每一所述工作区设有若干个所述准直孔,任一所述工作区中至少有部分区域具有不同于与之相邻的另一所述工作区的厚度,使位于相邻两所述工作区当中的至少二所述准直孔具有不同的孔深。
2.如权利要求1所述的准直器,其特征在于:其中一所述工作区末端的厚度等于与之邻接的另一所述工作区起端的厚度。
3.如权利要求1所述的准直器,其特征在于:其中一所述工作区末端的厚度不等于与之相邻的另一所述工作区起端的厚度。
4.如权利要求2或3所述的准直器,其特征在于:其中一所述工作区内各处具有不尽相等的厚度,使位于该工作区的若干所述准直孔中至少有两个所述准直孔具有不同的孔深。
5.如权利要求2或3所述的准直器,其特征在于:其中一个所述工作区内各处具有相等的厚度,使位于该工作区的若干所述准直孔中的若干所述准直孔具有相同的孔深。
6.如权利要求1所述的准直器,其特征在于:每一所述工作区由一准直层组成,或由若干准直层堆叠而成。
7.如权利要求1所述的准直器,其特征在于:所述准直器为一体结构。
8.一种探测装置,其包括检测装置,其特征在于:所述探测装置还包括权利要求1至7任一项所述的准直器,所述准直器用于对射线进行准直,并且准直后的射线将被施加到所述检测装置上。
9.如权利要求8所述的探测装置,其特征在于:所述准直器的位置相对所述检测装置是可以调整变动的。
10.一种扫描设备,其包括探测装置和机架,所述探测装置安装于所述机架,其特征在于:所述探测装置包括权利要求1至7任一项所述的准直器,所述准直器用于对射线进行准直。
11.如权利要求10所述的扫描设备,其特征在于:所述准直器的位置相对检测装置是可以调整变动的。
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