[实用新型]太赫兹波线宽测量的装置有效
申请号: | 201420784911.3 | 申请日: | 2014-12-10 |
公开(公告)号: | CN204255507U | 公开(公告)日: | 2015-04-08 |
发明(设计)人: | 徐德刚;李佳起;王与烨;李忠孝;闫超;刘鹏翔;石嘉;严德贤;徐文韬;姚建铨 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01J9/02 | 分类号: | G01J9/02;G01J3/45 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘国威 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 赫兹 波线宽 测量 装置 | ||
1.一种太赫兹波线宽测量的装置,其特征是,结构为:
入射太赫兹波经第1表面镀金离轴抛物面镜之后平行出射至法布里-珀罗干涉仪腔镜;
由高阻硅材料制成的位置固定法布里-珀罗干涉仪腔镜a,两个表面抛光,两个抛光表面具有1度左右的楔角,靠近腔镜b的表面与入射太赫兹波垂直;
法布里-珀罗干涉仪腔镜b材料及外形尺寸与腔镜a完全相同,靠近腔镜a的表面与入射太赫兹波垂直,腔镜b安装于移动平台上;
步进移动平台沿太赫兹波传播方向步进运动;
来自腔镜b的平行入射的太赫兹波经第2表面镀金离轴抛物面镜进行会聚;
第2表面镀金离轴抛物面镜的焦点位置设置有斩波器,第2表面镀金离轴抛物面镜输出得太赫兹波经斩波器、热释电探测器、AD转换器输出测量结果。
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