[实用新型]一种红外对射探测器有效
申请号: | 201420797263.5 | 申请日: | 2014-12-15 |
公开(公告)号: | CN204288401U | 公开(公告)日: | 2015-04-22 |
发明(设计)人: | 王龙根;钟和平;白征志;曾敏;钱永建;王民生;但先文 | 申请(专利权)人: | 深圳市豪恩安全科技有限公司 |
主分类号: | G08B13/181 | 分类号: | G08B13/181 |
代理公司: | 深圳市兴科达知识产权代理有限公司 44260 | 代理人: | 杜启刚 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红外 对射 探测器 | ||
[技术领域]
本实用新型涉及安防领域,尤其涉及一种红外对射探测器。
[背景技术]
红外对射探测器由主动红外发射器和被动红外接收器组成,当发射器与接收器之间的红外光束被完全遮断或按给定百分比遮断时发出报警信号。如图7所示,发射器M固定好后,发出平行的红外信号,接受器N需要调试到合适角度,才能正常地接受信号。
专利号为CN200720080426.8的实用新型专利公开了一种红外对射探测器,主要由其上安装有红外发射电路或红外接收电路的电路板,管体,滤光板,上管帽,下管帽,底座,指示灯等组成。上管帽和下管帽上分别一体化设置有管轴;底座上分别设置有相同结构的支架上、下管帽的管轴分别插入支架中。其管体可旋转,便于将管体调整至最佳对射角度,且能在安装完毕后防止管体转动。这种红外对射探测器只能绕管轴一个轴线转动,不便于调试,发射器与接受器的对正效果不好。
[发明内容]
本实用新型要解决的技术问题是提供一种便于调试,发射器与接受器的对正效果好的红外对射探测器。
为了解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案是,一种红外对射探测器,包括底座和至少一个透镜总成,透镜总成包括调节器框架、透镜和透镜支架,调节器框架的两端分别与机座铰接;透镜支架布置在调节器框架中,透镜支架的两侧分别与调节器框架的两个边框铰接;调节器框架两端与机座的铰接轴线同透镜支架与调节器框架的铰接轴线正交。
以上所述的红外对射探测器,包括两个所述的透镜总成,底座包括底板、两个外支座和一个内支座,外支座和内支座分别固定在底板上,内支座布置在两个外支座之间;调节器框架的外端与外支座铰接,内端与内支座铰接。
以上所述的红外对射探测器,外支座包括弧形的刻度盘,调节器框架的外端包括刻度标线。
以上所述的红外对射探测器,透镜总成包括两个所述的透镜,透镜支架的两侧的中部与调节器框架铰接;调节器框架边框的中部包括弧形的刻度盘,透镜支架外侧的中部包括刻度标线。
以上所述的红外对射探测器,包括接线板,接线板布置在内支座顶部。
本实用新型红外对射探测器有横向和纵向两个正交的调节轴,便于对射装置进行调试,发射器与接受器的对正效果好。
[附图说明]
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
图1是本实用新型实施例红外对射探测器的主视图。
图2是图1中的A向剖视图。
图3是图1中的B向剖视图。
图4是本实用新型实施例红外对射探测器的右视图。
图5是本实用新型实施例红外对射探测器的立体图。
图6是本实用新型实施例红外对射探测器另一视角的立体图。
图7是红外对射探测器工作原理示意图。
[具体实施方式]
本实用新型实施例红外对射探测器的结构如图1至图6所示,包括底座100和两个透镜总成200。
底座100包括底板1、两个外支座(上支座和下支座)2和一个内支座(中间支座)3。外支座2和内支座3分别用螺钉固定在底板1上,内支座3布置在两个外支座2之间。
透镜总成200包括调节器框架4、两个透镜5和透镜支架6,透镜支架6布置在调节器框架4中,透镜支架6的两侧的中部分别通过转轴601与调节器框架4的两个边框401铰接。
调节器框架4的两端分别与机座铰接。其中,调节器框架4的外端与通过销轴7与外支座2铰接,调节器框架4的内端通过铰接轴头8与内支座3铰接。
调节器框架4两端与机座的铰接轴线M-M与透镜支架6与调节器框架4的铰接轴线N-N正交。
外支座2有一个弧形的刻度盘201,调节器框架4的有一条刻度标线402。刻度标线402与刻度盘201相对。
调节器框架4边框401的中部有一个弧形的刻度盘403,透镜支架6外侧的中部有一个刻度标线601。刻度标线601与刻度盘403相对.
上下两个透镜总成200电缆用的接线板301布置在内支座3顶部。
本实用新型以上实施例具有以下优点:
1.红外对射探测器有横向和纵向两个正交的调节轴,便于对射装置进行调试,发射器与接受器的对正效果好。
2.产品安装调试时,通过相同的刻度为参照,只要一组调试成功,另外一组即可参考刻度,快速简单完成调试提高产品安装效率。
3.在刻度盘旁边有刻度标线,让使用者可直观地看到调试具体刻度参数。
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