[实用新型]一种超薄硅膜有效
申请号: | 201420801221.4 | 申请日: | 2014-12-16 |
公开(公告)号: | CN204257756U | 公开(公告)日: | 2015-04-08 |
发明(设计)人: | 张宇明 | 申请(专利权)人: | 昆山瑞坦纳新能源科技有限公司 |
主分类号: | H01M4/38 | 分类号: | H01M4/38;H01M4/1395;H01M4/134 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 巩克栋;杨晞 |
地址: | 215300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 超薄 | ||
1.一种超薄硅膜,其特征在于,所述超薄硅膜自下而上依次包括导电基底层、硅膜层和钝化层。
2.根据权利要求1所述的超薄硅膜,其特征在于,所述硅膜层的厚度为10nm-1000nm。
3.根据权利要求1或2所述的超薄硅膜,其特征在于,所述导电基底层为铜层、镍层、铁层、铜镍层、铜铁层、镍铁层或铜镍铁层。
4.根据权利要求1或2所述的超薄硅膜,其特征在于,所述导电基底层的厚度为10μm-100μm。
5.根据权利要求1或2所述的超薄硅膜,其特征在于,所述钝化层为Al2O3层、TiO2层、ZnO层、MgO层或SnO2层。
6.根据权利要求1或2所述的超薄硅膜,其特征在于,所述钝化层的厚度为0.1nm-5nm。
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