[实用新型]磁通检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种磁通检测设备，特别是涉及一种自动对磁体拔磁通的磁通检测设备。

背景技术

目前，在工厂中检测磁体的磁通一般都是由人手工拔磁通完成的。检测结果跟人手工拔磁通的速度有很大关系，容易造成合格品错杀以及不合格品流出。而且，由于整个检测过程都是靠人手工完成，因而劳动强度大，工作效率低。

也有一些磁通检测设备用来自动检测磁通，但这些设备存在只能检测特定规格的磁体、结构较复杂、制造成本高、操作步骤多、检测效率低等缺点。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型提供一种磁通检测设备，能够适应磁通检测的特点，提高检测可信度和工作效率，降低人工劳动强度。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种磁通检测设备，包括：传送带(1)，具有在水平方向上延伸的上表面，用于将待测磁体放置在所述上表面；磁通仪(2)，用来测量磁通数值；以及赫姆霍兹线圈(4)，用于将待测磁体切割磁场所产生的电流传给所述磁通仪，所述传送带的所述上表面从所述赫姆霍兹线圈的一端穿入，从所述赫姆霍兹线圈的另一端穿出。

本实用新型的磁通检测设备，还包括定位板(3)，所述定位板固定在所述赫姆霍兹线圈上，所述传送带从所述定位板的下方通过。

本实用新型的磁通检测设备，还包括入料传感器(5)，所述入料传感器在所述传送带的输送方向上位于所述定位板的下游侧。

本实用新型的磁通检测设备，所述入料传感器位于所述赫姆霍兹线圈在所述输送方向上的中心位置。

本实用新型的磁通检测设备，所述磁通仪被构成为当待测磁体通过所述入料传感器时归零。

本实用新型的磁通检测设备，还包括出料传感器(6)，所述出料传感器在所述传送带的输送方向上位于所述赫姆霍兹线圈的下游侧。

本实用新型的磁通检测设备，所述磁通仪被构成为当待测磁体通过所述出料传感器时读取磁通数值，所述传送带被构成为当待测磁体通过所述出料传感器时停止。

本实用新型的磁通检测设备，所述传送带被构成为在所述磁通仪当待测磁体通过所述出料传感器时读取磁通数值之后，继续沿所述输送方向运动预定距离或沿与所述输送方向反向的方向运动预定距离。

本实用新型的磁通检测设备，还包括报警器(7)，当所述磁通仪测量得到的磁通数值大于等于预先设置的标准值时，所述报警器不报警；当所述磁通数值小于所述标准值时，所述报警器报警。

本实用新型的磁通检测设备，能够适应磁通检测的特点，提高检测可信度和工作效率，降低人工劳动强度。

附图说明

图1是根据本实用新型一个实施方式的磁通检测设备的结构示意图。

图2是图1所示磁通检测设备的左视图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的磁通检测设备进行详细说明。

图1是根据本实用新型一个实施方式的磁通检测设备的结构示意图。图2是图1所示磁通检测设备的左视图。如图1、2所示，根据本实用新型一个实施方式的磁通检测设备主要包括：传送带1；磁通 仪2；定位板3；赫姆霍兹线圈4；入料传感器5；出料传感器6；以及报警器7。

传送带1的上表面在水平方向上延伸，待测磁体放置在传送到1的上表面，被传送带1输送穿出赫姆霍兹线圈4，从而实现对磁体拔磁通。传送带1由马达等驱动源驱动。

磁通仪2用来测量磁体的磁通数值，并根据测量得到的磁通数值来判断磁体是否合格。

定位板3固定在赫姆霍兹线圈4上，传送带1从定位板3的下方通过，通过使磁体与定位板3相接触来确定磁体的起始位置。

赫姆霍兹线圈4用于将磁体切割磁场所产生的电流传给磁通仪2。传送带1的上表面从赫姆霍兹线圈4的一端(例如后端)穿入，从另一端(例如前端)穿出。定位板3例如位于赫姆霍兹线圈4的两个线圈中的后方的线圈上。

入料传感器5例如由光发射器和光接收器构成，在左右方向上分别位于传送带1的上表面左右两侧，在前后方向上位于定位板3的前侧，即，位于传送带1的输送方向下游侧，位于赫姆霍兹线圈4的前后方向大体中心位置。当磁体放置在起始位置时，由于磁体遮蔽了光发射器与光接收器之间的光路，入料传感器5检测到信号，并将所检测到的信号传给磁通仪2。由此，磁通仪2归零，从而做好检测准备。