[实用新型]具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具

说明书

技术领域

本实用新型电路板检测领域，特别指一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具。

背景技术

随着电子产品趋向于[短/小/轻/溥],加上表面黏著技术的高度成长,使得印刷电路板(PCB)快速朝向高密度,细微线路的方向发展,但如今已出现量产后无法完成测试的预期效果,再加上高阶PCB表面的处理方式多为：金面处理、PCB表面抗氧化保护膜处理，如果使用传统测试治具会对PCB的表面造成损坏导致贴片工序无法很好的对位造成不易贴片或者贴片不良，有进行OSP表面处理的PCB如果针痕太深对保护膜造成的破坏，导致PCB表面氧化。

目前对无针痕测试治具有需求的PCB主要是软板、软金板，软硬结合板面对测试针印的要求不断提高，测试后用20-40倍放大镜看测点，不允许有测试针印，主要应用领域是：柔性线路板、软硬结合板、CSP产品等，使用普通测试治具无法满足此要求。现有传统测试治具的缺憾：传统测试治具不具备CCD对位功能,印制偏移的产品无法通过治具进行测试；传统测试治具不具备ID识别设备，不自动记载测试的具体数据信息及测试治具的测试寿命管控；传统测试治具使用是弹簧针结构,一般使用20倍放大镜可以看到明显针痕，而该产品则使用线针结构，通过测试治具的调节板来调节探针的高度，再加上搭配设备使用伺服螺杆，可以精准对位及保证40倍放大镜，看不到测试痕迹，便于后续SMT的贴装工作；传统测试治具只适合于单个小片成品测试，不适合大片测试；传统治具由于使用定位PIN来定位待测试的产品，精度度有差且部分料号不适合做单颗测试，该产品无需定位PIN固定产品测试，通过脱料板搭配设备进行单颗测试，节约了治具的成本。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，提供一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具。

    本实用新型采取的技术方案如下：一种具有ID识别CCD自动对位无针痕的电板测试治具，包括针盘、线盘、治具连接底座、ID识别器及CCD感应板，其中，上述治具连接底座的上部为安装平面，CCD感应板设置在该安装平面上；上述线盘设置在治具连接底座的上部，线盘上设有针盘；上述ID识别器设置在治具连接底座的侧部，ID识别器连接CCD感应板，CCD感应板感应线盘的移动信息，并将信息传递至ID识别器内储存。

    优选地，所述的CCD感应板上设有至少二个CCD感应点，以便感应线盘移动信息。

    优选地，所述的针盘为双层板体结构，针盘的两个板体间隔设置，两板体之间设有支柱，以便支撑。

    优选地，所述的针盘内设有至少二个探针，探针穿插设置在针盘的两板体之间，探针的头部向外伸出，以便检测电板。

    优选地，所述的探针的下部连接有导电线，导电线连接在导电电极上，导电电极设置在线盘上，导电电极连接外设的电检测装置，以便将探针检测的数据发送至电检测装置，进行电路检测。

    优选地，所述的线盘为板体结构，线盘的板体下部设有支柱，以便支撑，支柱固定设置在治具连接底座上。

本实用新型的有益效果在于：