[实用新型]一体式液晶模组测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶模组测试领域，具体涉及一种可脱离上位机进行参数配置、测试操作且兼容多种测试信号的一体式液晶模组测试装置。

背景技术

LCM(LCD Module，液晶模组)是当前和今后一段时期内平板显示终端的主流，在LCM产线上，需要利用液晶模组测试装置对LCM的显示质量进行检测以保证模组的出厂质量。

根据不同的应用需求，LCM需采用不同的物理信号接口，如LVDS、DP、MIPI等。目前，如图1所示，液晶模组测试装置一般都是由上位机、LVDS信号源和信号接口扩展板(DP、MIPI等物理接口)组成一个测试系统，才能兼容LVDS、DP、MIPI等接口类型LCM的测试需求。这种测试方案虽然能兼容不同接口类型LCM的测试需求，但存在以下问题：

1)修改待测LCM的配置参数都需要专门配置的上位机介入，且需要通过网口共享或下载到LVDS信号源，测试流程较为复杂；

2)各设备之间需各种线材连接，操作过程比较繁琐，且测试系统搭建好后不能随意移动；

3)搭建的测试系统由于需采用各种线材连接，接口的接触不良容易造成测试结果的误判；

4)搭建的测试系统占用空间较大。

发明内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种一体式液晶模组测试装置，将上位机的操作系统及测试应用程序运行平台集成 到液晶模组测试设备上，脱离上位机直接进行液晶模组配置及测试操作，无需共享或下载；另外，测试装置能同时兼容多种常见的测试信号，减少转接线材的使用。

为实现上述目的，本实用新型所设计的一体式液晶模组测试装置，其特殊之处在于，包括ARM核心模块、信号处理模块、电源模块、信号输出及控制模块，所述信号输出及控制模块包括MCU子模块、FPGA信号处理子模块、信号处理转换芯片和信号输出子模块，所述ARM核心模块分别与信号处理模块、电源模块及信号输出及控制模块连接，所述信号处理模块与信号输出及控制模块连接，所述电源模块和信号输出子模块分别与待测液晶模组连接。

进一步地，所述信号处理转换芯片包括MIPI信号子模块和DP信号子模块，所述信号输出子模块包括LVDS信号输出接口、MIPI信号输出接口和DP信号输出接口，所述FPGA信号处理子模块分别与LVDS信号输出接口、MIPI信号子模块和DP信号子模块连接，所述MIPI信号子模块与MIPI信号输出接口连接，所述DP信号子模块与DP信号输出接口连接，所述LVDS信号输出接口、MIPI信号输出接口和DP信号输出接口与待测液晶模组连接。若待测液晶模组为LVDS类型，则FPGA将图像信号直接发送至LVDS信号输出接口传输至待测液晶模组，若待测液晶模组为MIPI类型或者DP类型，则FPGA将图像信号转换为TTL图像后相应地传送至MIPI信号子模块或者DP信号子模块，MIPI信号子模块将TTL图像信号转换为MIPI图像信号并发送至MIPI信号输出接口，DP信号子模块将TTL图像信号转换为DP图像信号并至DP信号输出接口，MIPI信号输出接口将MIPI图像信号传输至待测液晶模组显示，DP信号输出接口将DP图像信号传输至待测液晶模组显示。

更进一步地，还包括通信模块，所述通信模块包括用于与外部设备通讯的RS232接口、RS485接口、USB接口和网口。所述显示模块还包括用于外接显示器的HDMI接口。

更进一步地，还包括显示模块和输入模块，所述显示模块为自带显示屏，所述输入模块为触摸屏。测试时通过触摸屏输入液晶模组配置信息和电源配置信息。所述显示模块还包括用于外接显示器的HDMI接口。

更进一步地，所述输入模块还包括用于外接鼠标和键盘的USB接口。

本实用新型较现有技术的有益之处在于：

1)本实用新型直接将上位机功能与ARM功能集成为一个应用程序运行在测试装置里的系统上，测试配置文件无需共享或下载，可以脱离上位机直接在测试装置上进行测试参数的配置和测试操作，测试流程简单，能有效的提升测试效率；2)本实用新型能同时兼容LVDS、DP、MIPI三种测试信号，能实现LVDS、DP、MIPI三种专用测试装置的功能，能极大的减少液晶模组产线的测试成本；3)由于本实用新型能同时兼容LVDS、DP、MIPI三种测试信号，减少了转接线材的使用，能有效的避免由于线材转接的接触不良而造成测试结果的误判；4)本实用新型装置集成度高，占用空间较小，测试装置能较为方便的携带和移动。

附图说明

图1为现有液晶模组测试系统的方框图；