[实用新型]实现频率修调集成化控制的系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及频率修调技术领域，尤其涉及时钟频率修调技术领域，具体是指一种实现频率修调集成化控制的系统。

背景技术

集成电路设计中一般会集成内部时钟发生器，但由于工艺波动影响，实际生产的频率会在一定范围内波动，为满足实际应用中时钟精度要求，会考虑对频率做修调，频率修调一般依靠测试仪完成。

测试主要包含以下步骤：初始频率采集，确定频率修调值，修调值写入电路。其中，初始频率采集由测试仪完成，得到初始频率后，测试仪通过软件运算，选择合适的修调值，最后通过测试仪将修调值写入管芯，从而完成频率修调。

而一般频率采集需要测试仪中频率测试模块(TMU)来实现，一个TMU在同一时间内仅负责一个管芯频率采集。

另外不同管芯的频率修调值一般会存在差异，即修调值写入过程中，测试仪需要根据当前频率测试结果，选择合适的修调值写入。

随着集成电路设计尺寸的不断缩小，单个晶圆(wafer)管芯数也不断增加，为缩短测试时间，节省测试成本，目前集成电路测试一般会选择多管芯同测。

但是在处理多管芯同测频率项目时，如测试卡板上仅有一个TMU，则频率测仅能试按单管芯方式轮流测试，降低了测试效率；如要依靠TMU实现真正意义多管芯同测，需增加测试卡板上TMU数量，但测试卡板成本成倍提高。

在获取初始频率后，测试仪再经过软件运算处理，选择合适的频率修调值，配合下一步修调值写入的测试过程。即修调过程中，需要软件参与修调值选择，增加了测试程序的复杂程度。修调值写入过程中，在多管芯测试时，需要将不同的修调值写入各个管芯，在一定程度上也增加了测试程序的复杂程度。

综上，当前测试仪在处理频率修调测试方面存在以下问题：

1、频率测试依赖于TMU，在多管芯测试时，面临测试效率低(仅一个TMU)或测试成本高(集成多个TMU)的问题。

2、频率修调值选择依靠软件介入处理，增加了测试程序设计的复杂程度。

3、频率修调值写入在多管芯测试过程中会增加测试程序设计的复杂程度。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种将复杂的软件频率修调过程转换为普通的模块功能测试，在基本不增加集成电路成本的前提下简化频率修调测试过程，且便于实现多管芯同时修调的实现频率修调集成化控制的系统。

为了实现上述目的，本实用新型的实现频率修调集成化控制的系统具有如下构成：

该实现频率修调集成化控制的系统，其主要特点是，所述的系统包括频率修调集成电路，所述的频率修调集成电路包括依次连接的频率发生模块、频率测试模块、频率比较模块和频率修调值控制模块，其中：

所述的频率测试模块，用以采集所述的频率发生模块输出的频率，并将相应的频率计量结果输出至所述的频率比较模块；

所述的频率比较模块，用以对所述的频率计量结果和频率计量理论值进行比较分析，并将相应的频率修调控制信号输出至所述的频率修调值控制模块；

所述的频率修调值控制模块，用以根据所述的频率修调控制信号输出相应的频率修调值至所述的频率发生模块。

进一步地，所述的系统还包括测试仪，所述的频率测试模块为计数器，所述的频率发生模块的输出端与所述的频率测试模块的输入端连接，所述的频率测试模块的输出端与所述的频率比较模块连接，所述的测试仪的基准时钟输出端与所述的频率测试模块的使能端连接。

进一步地，所述的频率比较模块包括频率上限检测单元，频率下限检测单元和频率检测结果生成单元，其中：

所述的频率测试模块的输出端与所述的频率上限检测单元的输入端连接，所述的频率上限检测单元的输出端与所述的频率检测结果生成单元的第一输入端连接；

所述的频率测试模块的输出端与所述的频率下线检测单元的输入端连接，所述的频率下限检测单元的输出端与所述的频率检测结果生成单元的第二输入端连接；

所述的频率检测结果生成单元的输出端与所述的频率修调值控制模块连接；

所述的频率上限检测单元，用以将所述的频率计量结果和频率上限理论值进行比较，并将相应的上限比较结果发送至所述的频率检测结果生成单元；

所述的频率下限检测单元，用以将所述的频率计量结果和频率下限理论值进行比较，并将相应的下限比较结果发送至所述的频率检测结果生成单元；

所述的频率检测结果生成单元，用以根据所述的上限比较结果和所述的下限比较结果生成相应的频率修调控制信号，并将该频率修调控制信号发送至所述的频率修调值控制模块。