[实用新型]X射线检查系统有效

专利信息
申请号: 201420867184.7 申请日: 2014-12-31
公开(公告)号: CN204439577U 公开(公告)日: 2015-07-01
发明(设计)人: 李树伟;张清军;康克军;李元景;李玉兰;赵自然;刘以农;刘耀红;朱维彬;赵晓琳;何会绍 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/02 分类号: G01N23/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 刘志强
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 射线 检查 系统
【权利要求书】:

1.一种X射线检查系统,包括X射线发射装置、探测器阵列(2)和X射线束流强度监控装置,所述X射线发射装置发出的X射线束流包括照射于所述探测器阵列(2)上的工作束流和照射于所述探测器阵列(2)之外的冗余束流,其特征在于,所述X射线束流强度监控装置包括强度探测模块和数据处理模块,所述强度探测模块设置于所述X射线发射装置和所述探测器阵列(2)之间以接受所述冗余束流的照射并发出探测信号,所述数据处理模块与所述强度探测模块耦合以接收所述探测信号并输出X射线束流强度监控信号。

2.根据权利要求1所述的X射线检查系统,其特征在于,所述X射线检查系统还包括位于所述X射线发射装置和所述探测器阵列(2)之间的准直器(3),所述强度探测模块位于所述X射线发射装置和所述准直器(3)之间。

3.根据权利要求1所述的X射线检查系统,其特征在于,所述X射线束流强度监控装置包括相对于所述工作束流对称布置的多个所述强度探测模块。

4.根据权利要求1所述的X射线检查系统,其特征在于,所述X射线束流是扇面形束流,所述强度探测模块位于所述扇面形束流的扇面侧方。

5.根据权利要求1所述的X射线检查系统,其特征在于,所述X射线束流强度监控信号包括所述X射线束流的剂量监控信号和/或所述X射线束流的亮度校正信号。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的X射线检查系统,其特征在于,所述数据处理模块包括积分放大器和信号转换装置,所述积分放大器与所述强度探测模块耦合以接收所述探测信号并输出电压信号,所述信号转换装置与所述积分放大器耦合以接收所述电压信号并输出所述X射线束流强度监控信号。

7.根据权利要求6所述的X射线检查系统,其特征在于,所述信号转换装置包括电压比较器和模数转换器中的至少一个,其中,所述电压比较器与所述积分放大器耦合以接收所述电压信号并输出电平信号作为所述X射线束流的剂量监控信号,所述模数转换器与所述积分放大器耦合以接收所述电压信号并输出数字信号作为所述X射线束流的亮度校正信号。

8.根据权利要求1至5中任一项所述的X射线检查系统,其特征在于,所述强度探测模块为闪烁探测模块(5)或气体探测模块(6)。

9.根据权利要求8所述的X射线检查系统,其特征在于,所述强度探测模块为闪烁探测模块(5),所述闪烁探测模块(5)包括闪烁体(51)、光敏器件(52)和屏蔽层(53),所述闪烁体(51)的一端与所述光敏器件(52)耦合且所述闪烁体(51)位于所述光敏器件(52)和所述工作束流之间以使所述闪烁体(51)接受所述冗余束流的照射,所述屏蔽层(53)设置于所述光敏器件(52)外围。

10.根据权利要求8所述的X射线检查系统,其特征在于,所述强度探测模块为气体探测模块(6),所述气体探测模块(6)包括高压电极板(61)、收集电极板(62)和工作气体(63),所述高压电极板(61)位于所述X射线发射装置与所述收集电极板(62)之间并垂直于所述X射线束流的入射方向以使所述高压电极板(61)接受所述冗余束流的照射,所述工作气体(63)位于所述高压电极板(61)和所述收集电极板(62)之间。

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